基于復(fù)數(shù)域模型的模擬電路測試優(yōu)選方法研究.pdf

1、模擬電路的故障有許多難題需要分析解決,評估一個給定的系統(tǒng)的可測試性度量和測試的復(fù)雜性便是一個這樣的問題。在復(fù)雜的電子電路中可測性功能已經(jīng)在系統(tǒng)的設(shè)計和運行階段必不可少。目前大多數(shù)測試性診斷方法是通過頻率選擇和測點選擇來實現(xiàn),而現(xiàn)有的故障模型均存在明顯的不足,如只能作用于軟故障或硬故障,且大多數(shù)只能用于線性電路系統(tǒng)。因此,本文提出一種基于復(fù)數(shù)域建模的測試優(yōu)選方法來實現(xiàn)模擬電路的可測性分析和故障診斷,主要完成了以下工作:
　　1.基于

2、復(fù)數(shù)域建模模型的可測性建模方法研究。區(qū)別于以往的故障模型方法,它將元件的軟故障和硬故障作為一個故障來表征,同時不僅適用于線性電路,在非線性電路中同樣適用?；舅枷胧墙⒁环N關(guān)于故障元件在輸出電壓實部與虛部之間的關(guān)系式?,?0x or ojf U U?,它們可以建立成一個圓模型。而這個關(guān)系式能作為一種故障信號特征并且與故障元件的取值無關(guān)。這個關(guān)系式能夠通過分析或者仿真的方法獲得。本文提出的復(fù)數(shù)域建模方法可以模擬連續(xù)參數(shù)漂移(CPS)故障。

3、
　　2.測試優(yōu)選方法的實現(xiàn)——頻率優(yōu)選和測點選擇。本文提出的故障模型方法可以在沒有傳遞函數(shù)和廣泛的模擬要求情況下通過較少的測試點模擬更多的故障。該模型是從二元二次函數(shù)中導(dǎo)出。在復(fù)數(shù)域上由兩個二次函數(shù)確定的位點可能有兩個交點,其中一個是無故障點,另一個在本文中被稱為混疊的問題(或故障元件對(xi, xk)?；殳B問題可以通過調(diào)整輸入信號的頻率來解決,所選擇的頻率是否是最優(yōu)頻率是通過依賴于故障類型進行測試或診斷的。大部分的測試頻率產(chǎn)生

4、方法是通過解決硬故障和(或)特定的離散參數(shù)漂移故障(DPS)。本文首先提出的復(fù)數(shù)域建模方法可以模擬連續(xù)參數(shù)漂移(CPS)故障?；谶@個模型,本文提出了測試頻率產(chǎn)生和壓縮方法求取電路的最優(yōu)頻率集。同時根據(jù)電路的特征曲線可求得每個測點的模糊組,從而求得模擬電路的故障字典,對電路進行測點選擇實現(xiàn)電路的故障診斷。
　　3.模擬電路復(fù)數(shù)域建模及測試優(yōu)選軟件開發(fā)設(shè)計。本文基于Matlab軟件完成了模擬電路系統(tǒng)的復(fù)數(shù)域建模及測試優(yōu)選系統(tǒng),實現(xiàn)了