面向規(guī)則磁片的三維尺寸檢測(cè)技術(shù)研究.pdf

1、伴隨工業(yè)機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)不斷發(fā)展，各種視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)也相繼成為工業(yè)生產(chǎn)中檢測(cè)環(huán)節(jié)的首選技術(shù)，進(jìn)而導(dǎo)致對(duì)工業(yè)磁片檢測(cè)的要求愈加嚴(yán)苛。目前普遍采用的檢測(cè)方案為效率較高的雙目立體視覺(jué)技術(shù),然而二維視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)在檢測(cè)精度和計(jì)算量上普遍好于三維視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)。因此針對(duì)本文待測(cè)磁片特定三維參數(shù),設(shè)計(jì)一種由二維尺寸測(cè)量間接實(shí)現(xiàn)三維參數(shù)測(cè)量的尺寸檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)于工業(yè)磁片檢測(cè)將會(huì)非常有意義。
　　本文根據(jù)工業(yè)微型磁片體積等尺寸參數(shù)檢測(cè)的需求，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了一種

2、面向規(guī)則磁片的三維尺寸檢測(cè)系統(tǒng)。在研究了相機(jī)標(biāo)定模型的基礎(chǔ)上，采用 RAC兩步標(biāo)定法對(duì)兩個(gè)相機(jī)分別進(jìn)行了單目標(biāo)定，從而確定了真實(shí)坐標(biāo)與像素坐標(biāo)的轉(zhuǎn)換關(guān)系。圖像處理部分主要包括圖像濾波處理、圖像邊緣檢測(cè)處理以及尺寸測(cè)量。在研究多種去噪方法的基礎(chǔ)上,本文根據(jù)待檢測(cè)磁片相應(yīng)檢測(cè)環(huán)境產(chǎn)生的噪聲干擾，給出了一種針對(duì)本文規(guī)則磁片圖像的混合濾波方法，較好地實(shí)現(xiàn)了去噪濾波效果。在圖像邊緣檢測(cè)模塊中，本文通過(guò)分析并比較了幾種較為經(jīng)典的圖像邊緣檢測(cè)算法，選

3、擇了適宜待測(cè)圖像邊緣提取的邊緣檢測(cè)算子，從而達(dá)到獲取特征信息的目的。作為尺寸檢測(cè)系統(tǒng)最關(guān)鍵的環(huán)節(jié)——尺寸測(cè)量部分，本文在研究了Hough變換中規(guī)則形狀檢測(cè)的前提下，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了對(duì)微型圓柱體磁片上表面半徑、側(cè)面與上表面傾斜角、側(cè)面厚度以及體積等尺寸參數(shù)的測(cè)量功能。本文最終實(shí)現(xiàn)了面向規(guī)則磁片的三維尺寸檢測(cè)系統(tǒng),并對(duì)系統(tǒng)穩(wěn)定性與檢測(cè)效率等因素進(jìn)行了適當(dāng)?shù)闹貜?fù)性試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析。最后，通過(guò)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行重復(fù)性實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)分析可知，本文的磁片尺寸檢測(cè)系統(tǒng)能