磁片表面缺陷檢測技術(shù)研究.pdf

1、本文的研究對象是釹鐵硼材料的磁片。如果磁片表面出現(xiàn)磕邊、麻點或劃痕缺陷輕則影響磁片的商業(yè)價值，重則在使用中造成嚴(yán)重的后果。在當(dāng)前的質(zhì)量檢測中還主要依靠人工檢測，但由于人工檢測易受到人的主觀因素影響而造成誤檢、漏檢，且人工檢測的效率低，勞動成本高，不利于企業(yè)的長期發(fā)展。因此利用圖像處理技術(shù)實現(xiàn)磁片的表面缺陷檢測，具有重要的實際意義和經(jīng)濟效益。
　　本文要檢測的磁片表面缺陷有磕邊、麻點和劃痕。磁片磕邊缺陷的檢測方法是，首先使用單閾值法

2、對磁片圖像進行二值分割，再使用模板定位算法對二值分割后的磁片圖像進行模板定位，之后把圖像的根坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換到固定坐標(biāo)系以把圖像位置不同的磁片變換到統(tǒng)一坐標(biāo)系下進行檢測；然后使用最大熵法提取出要檢測磁片的目標(biāo)區(qū)域，并使用基于最小二乘法的直線擬合方法擬合目標(biāo)區(qū)域的直線邊和基于最小二乘法的圓擬合方法擬合目標(biāo)區(qū)域的圓角邊，計算出各邊界點到擬合邊界的距離；最后用標(biāo)準(zhǔn)值和計算出的距離比較以判斷是不是磕邊。磁片麻點和劃痕缺陷的檢測方法首先也是進行圖像的模

3、版定位和固定坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換，之后對轉(zhuǎn)換后的磁片圖像進行中值濾波法處理以去除圖像中椒鹽噪聲的干擾；然后分析磁片圖像的麻點和劃痕的特征以設(shè)定合適的灰度閾值，再用確定的閾值對磁片圖像進行分割若有缺陷則計算得到的缺陷面積或缺陷長度；最后與標(biāo)準(zhǔn)值比較以確定是不是麻點或劃痕。最后，依據(jù)上述的檢測方法設(shè)計并實現(xiàn)了磁片表面缺陷檢測系統(tǒng)并進行了測試。實現(xiàn)結(jié)果表明，本磁片表面缺陷檢測系統(tǒng)對于磁片的磕邊缺陷的檢出率可達到90％，對于磁片表面的麻點或劃痕缺陷的檢