電致發(fā)光測試在晶硅電池組件檢測認證中的應(yīng)用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著晶體硅太陽能電池大量的生產(chǎn)和應(yīng)用,光伏組件在質(zhì)量控制環(huán)節(jié)的重要性日益突出。晶硅電池組件的電致發(fā)光(electroluminescence,EL)測試是近年來開發(fā)應(yīng)用的有效測試手段,國際電工委員會(Intemational ElectrotechnicalCommission,IEC)已經(jīng)提出為光伏組件電致發(fā)光圖像的檢測制定標準,國內(nèi)也需要一套晶硅電池組件EL測試的標準來規(guī)范測試操作及結(jié)果判定。本文的研究即是為國內(nèi)EL測試標準的制定做

2、準備。
  首先,針對測試環(huán)境,包括光強、溫度、氣流等,建立由CCD照相機、直流電源等儀器構(gòu)成的測試系統(tǒng)。并且規(guī)范了EL測試的操作及流程,包括相機設(shè)置,偏置電流設(shè)置以及計算機捕獲圖像及處理方法。
  其次,分析造成光伏組件缺陷的原因,針對電池片的隱裂問題進行研究,通過實驗?zāi)M電池片不同位置存在單一直線裂紋以及受到不同大小點壓力的情況,在Python下用Opencv開發(fā)程序分析計算電池片失效面積占比。單一直線裂紋實驗中,多晶硅

3、電池片功率下降在10%左右,單晶硅電池片功率下降為1.7%至5.7%;點壓力實驗中,則下降分別為11%和4%左右。對比EL測試圖像以及其他參數(shù)的測試結(jié)果,確定這兩種典型破壞對晶體硅太陽能電池片性能的影響,進而制定關(guān)于隱裂的判定標準。
  最后,結(jié)合實際測試情況,針對組件中的其他缺陷,在戶外對大量晶硅電池組件進行EL測試,并對比其經(jīng)STC(standard test condition)修正后的短路電流、開路電壓、功率以及效率等參數(shù)

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