非理想陣列天線的容差分析及優(yōu)化設(shè)計算法研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、在實際工程中,受制造工藝和工作環(huán)境等因素的影響,陣列天線的控制參數(shù)通常存在一定的誤差。這些不確定性誤差會引起天線陣激勵幅度和相位的不確定性,從而導(dǎo)致天線的性能參數(shù)在一定范圍內(nèi)產(chǎn)生波動。因此,在實際天線陣系統(tǒng)的分析和設(shè)計過程中有必要預(yù)估出這些不確定性因素對天線性能所造成的影響,從而減少陣列校正造成的時間及成本損耗,并保證陣列誤差存在時天線陣仍能獲得期望的輻射性能。本文主要圍繞非理想陣列天線的容差分析和優(yōu)化設(shè)計兩個方面展開研究,具體工作如下

2、:
  1、采用非概率區(qū)間分析(IA)方法對非理想均勻線陣進(jìn)行了容差分析,考慮天線陣的幅度誤差和相位誤差,分別建立了兩種誤差單獨(dú)或同時存在時的陣列天線功率方向圖函數(shù)的區(qū)間模型,并結(jié)合實際的指標(biāo)要求仿真分析了旁瓣電平、主瓣寬度、方向性系數(shù)等主要性能參數(shù)對幅相聯(lián)合誤差的容限,從而估計出天線所允許的最差性能情況,為天線設(shè)計提供了理論參考。
  2、針對IA算法在誤差較大或同時存在多種誤差時產(chǎn)生的區(qū)間擴(kuò)張問題,提出了二階攝動法,將小

3、區(qū)間不確定參量的解區(qū)間求解問題轉(zhuǎn)化為求解系統(tǒng)響應(yīng)的低階Taylor展開攝動量,從而更好的逼近實際功率變化區(qū)間。仿真結(jié)果表明,在一定的誤差范圍內(nèi),可使用二階攝動法代替IA法來計算陣列功率方向圖函數(shù)的區(qū)間值,從而有效提高計算精度。
  3、針對多種陣列誤差存在時的天線陣優(yōu)化設(shè)計問題,提出了區(qū)間-凸優(yōu)化(IA-CP)算法,通過建立基于IA的陣列激勵幅值的凸優(yōu)化模型綜合出符合性能指標(biāo)的功率方向圖。相較于現(xiàn)有的區(qū)間-粒子群(IA-PSO)算

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