基于ADL5317雪崩二極管系統(tǒng)參數(shù)測(cè)試電路的設(shè)計(jì).pdf

1、隨著光纖通信技術(shù)的飛速發(fā)展，對(duì)通信的速度和質(zhì)量提出了更高的要求，這就需要光檢測(cè)器件具有快速的響應(yīng)和很高的靈敏度。雪崩光電二極管(APD)作為一種高靈敏度、高速度的光電二極管，在電場(chǎng)強(qiáng)度的作用下，光電流的雪崩倍增近似于鏈?zhǔn)椒磻?yīng)，在數(shù)字光纖通信中得到廣泛應(yīng)用。
　　目前，雪崩二極管系統(tǒng)參數(shù)的生產(chǎn)測(cè)試主要依賴于國(guó)外的一些儀器設(shè)備，但這些儀器設(shè)備價(jià)格昂貴且需要借助其他設(shè)備輔助測(cè)量，不能廣泛滿足雪崩二極管生產(chǎn)測(cè)試的要求。面臨這一難題，本文以

2、APD雪崩二極管作為研究對(duì)象，查閱了大量相關(guān)資料，在國(guó)外數(shù)字源表設(shè)計(jì)原理的基礎(chǔ)上對(duì)雪崩二極管系統(tǒng)參數(shù)的測(cè)試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)，完成了雪崩二極管反向擊穿電壓和暗電流的測(cè)量。本論文的主要內(nèi)容如下:
　　1.本文從理論上分析APD雪崩二極管的工作原理、性能參數(shù)和測(cè)試條件，通過方案比較最終確定了ADL5317的設(shè)計(jì)方案;
　　2.ADL5317芯片集成了偏壓控制電路和微弱電流檢測(cè)電路，根據(jù)雪崩二極管的測(cè)試條件設(shè)計(jì)了硬件電路，此硬件電路包

3、括:ADL5317電路、電流電壓轉(zhuǎn)換電路、倍壓電路以及MCU控制單元;
　　3.采用單片機(jī)的AD和DA單元對(duì)硬件電路的電壓電流進(jìn)行采集控制，利用軟件編程對(duì)采集后的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理運(yùn)算，并通過液晶屏顯示，最后通過調(diào)試分析了測(cè)試電路的可行性。
　　本文實(shí)現(xiàn)了雪崩二極管擊穿電壓及暗電流的測(cè)量，在硬件設(shè)計(jì)中采用跨阻放大器方法攻克了微弱電流檢測(cè)的難題，在電流電壓轉(zhuǎn)換電路中的參考電壓采用2.5V而不是0V，這也是本文的創(chuàng)新點(diǎn)。通過調(diào)試可以得