基于遺傳算法的超聲稀疏陣列成像方法研究.pdf

1、隨著人們對于無損檢測技術的重視程度以及對于成像質(zhì)量要求的不斷提高，全聚焦超聲成像技術以其高分辨率、高對比度的特點在超聲無損檢測及評估領域受到了很大的關注，是近年來極具發(fā)展?jié)摿Φ某上窦夹g之一。然而這一成像方法需要采集和處理龐大的數(shù)據(jù)量，同時消耗大量的時間，較低的成像效率限制了其在工業(yè)實時檢測與成像中的廣泛應用。為了提高全聚焦成像技術的實現(xiàn)效率，同時最大程度地保證超聲檢測性能和成像質(zhì)量，本文將陣列稀疏化方法應用于全聚焦超聲成像技術中，并利用

2、遺傳算法對稀疏陣列的檢測性能進行了優(yōu)化研究。
　　首先建立了全聚焦超聲成像算法的數(shù)學模型，基于有效孔徑理論研究了陣列稀疏化的實現(xiàn)方法，通過FieldⅡ軟件仿真和標準缺陷檢測實驗分別進行了不同稀疏率陣列的檢測成像，在稀疏率為0.25時提高了成像效率41.7％，驗證了該方法的可行性和有效性。
　　然后根據(jù)稀疏陣列優(yōu)化的特點設計了遺傳算法的編碼方式、目標函數(shù)以及交叉變異算子等，成功地應用遺傳算法對稀疏線陣的檢測性能進行了優(yōu)化，優(yōu)化