DSP芯片試驗檢測裝置的設(shè)計與研究.pdf

1、數(shù)字信號處理器（Digital Signal Processor，DSP）具有運算速度快，處理性能強(qiáng)等特點，在電子產(chǎn)品的各個領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。DSP的測試能夠為包含其應(yīng)用的電子系統(tǒng)設(shè)計的正確性和可靠性提供支撐，因此，對DSP功能和性能的測試在包含DSP的電子系統(tǒng)設(shè)計中有著十分重要的意義。
　　本文提出了一種針對TI公司的TMS320C6000系列DSP集成芯片進(jìn)行測試的試驗檢測裝置的系統(tǒng)方案，并對該系統(tǒng)從硬件和軟件兩個方面進(jìn)行

2、了設(shè)計實現(xiàn)。所做的主要工作包括以下幾個方面：
　　1、理論說明階段。介紹了關(guān)于芯片測試的相關(guān)理論基礎(chǔ)，給出了關(guān)于C6000系列DSP集成芯片的電氣特性以及硬件結(jié)構(gòu)的介紹，詳細(xì)說明了DSP芯片的特點。
　　2、需求構(gòu)建階段。在分析了C6000系列DSP芯片硬件結(jié)構(gòu)以及內(nèi)部功能模塊的基礎(chǔ)上，給出了DSP芯片測試系統(tǒng)的需求分析，包括電參數(shù)測試方面和內(nèi)部功能模塊測試方面的需求分析，完成了實驗檢測裝置的總體需求。
　　3、系統(tǒng)設(shè)

3、計階段。在需求分析的基礎(chǔ)上給出測試系統(tǒng)的總體方案設(shè)計，包括系統(tǒng)的總體功能設(shè)計和系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)設(shè)計，然后給出了系統(tǒng)總體方案的選擇與設(shè)計分析。
　　4、硬件實現(xiàn)階段。首先對DSP集成芯片從電氣特性方面的測試入手，給出了電參數(shù)測試中針對各相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測試的測試原理，以及具體的方案選型、設(shè)計分析與測試方法。然后從功能特性方面的測試入手，給出了功能模塊測試中針對各內(nèi)部資源模塊進(jìn)行測試的測試原理，以及具體的設(shè)計方案與測試方法。最后再將上述兩個

4、方面進(jìn)行整合，設(shè)計成為一個完整的測試系統(tǒng)，以完成對C6000系列DSP集成芯片的測試。
　　5、系統(tǒng)測試階段。給出了采用此設(shè)計方案所完成的DSP試驗檢測裝置的系統(tǒng)模型對C6000系列DSP集成芯片進(jìn)行測試的結(jié)果。對測試結(jié)果進(jìn)行說明分析以及與萬用表所測量的試驗結(jié)果進(jìn)行對比，找出了誤差存在的原因并進(jìn)行結(jié)果校正工作。在測量結(jié)果的后面給出了根據(jù)所得的測量結(jié)果而繪制的曲線圖。
　　通過采用此設(shè)計方案所設(shè)計的DSP試驗檢測裝置對DSP集