基于RCM的混沌腔體電磁耦合特性的研究.pdf

1、隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子系統(tǒng)和電磁環(huán)境變得越來越復(fù)雜，各種電磁干擾耦合到目標(biāo)系統(tǒng)中的不確定性、隨機(jī)性以及敏感性也越加明顯。而電磁耦合效應(yīng)的統(tǒng)計(jì)性描述顯然優(yōu)于確定性描述。隨機(jī)耦合模型(RCM)在電磁兼容、統(tǒng)計(jì)電磁學(xué)、抗輻射加固和高功率微波效應(yīng)研究領(lǐng)域有著重要的意義，為了讓其成為具有通用性的研究工具，需進(jìn)行更深入的理論分析和實(shí)驗(yàn)研究。本文針對(duì)高功率微波效應(yīng)(HPM)和電磁兼容(EMC)研究中的典型問題，即復(fù)雜封裝腔體的電磁耦合，引入并采用隨

2、機(jī)耦合模型對(duì)波混沌腔體的耦合特性進(jìn)行了系統(tǒng)分析，從理論和實(shí)驗(yàn)兩個(gè)方面對(duì)該模型展開研究。
　　首先基于HPM研究現(xiàn)狀，分析了現(xiàn)有研究方法的特點(diǎn)以及局限性，著重從復(fù)雜腔體的不確定性和效應(yīng)過程的隨機(jī)性出發(fā)，引入了隨機(jī)耦合模型并對(duì)波混沌現(xiàn)象進(jìn)行描述和分析。在此基礎(chǔ)上，針對(duì)復(fù)雜腔體內(nèi)的目標(biāo)點(diǎn)，進(jìn)行耦合特性的測(cè)試、物理量的提取以及感應(yīng)電壓的統(tǒng)計(jì)預(yù)測(cè)。選取一個(gè)調(diào)頻發(fā)射電路作為待測(cè)電路，利用Emscan電磁干擾掃描系統(tǒng)確定了待測(cè)電路中的敏感區(qū)域和