版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、在極限電流型氧傳感器中,由于致密擴(kuò)散障礙層與電解質(zhì)層的燒結(jié)溫度不同,所以為了解決共燒結(jié)不匹配這一問題,制備傳感器的方法一般采用絲網(wǎng)印刷技術(shù)、瓷片復(fù)合工藝等方法。但是由于電解質(zhì)層與致密擴(kuò)散障礙層無法直接接觸,對傳感器的工藝要求較高,使傳感器的傳導(dǎo)無法取得良好的效果。磁控濺射工藝可以將8YSZ直接濺射到LSM基體上,使YSZ顆粒在LSM基體上生長,在接觸良好的同時(shí)進(jìn)一步減小氧傳感器的厚度。
本論文研究了LSM致密擴(kuò)散障礙層的最佳燒
2、結(jié)溫度,在1350℃時(shí)可以達(dá)到致密而且形成閉孔,防止氧傳感器在測試過程中在致密擴(kuò)散障礙層一側(cè)發(fā)生漏氧。采用射頻磁控濺射法在LSM基底上濺射制備8YSZ氧敏薄膜,分析了在濺射過程的工藝參數(shù)中,反應(yīng)氣體Ar和O2流量的變化、濺射過程中基體溫度以及濺射時(shí)間對YSZ薄膜微觀形貌的影響。
通過實(shí)驗(yàn)研究表明,射頻磁控濺射方法制備YSZ薄膜的最優(yōu)工藝參數(shù)為:工作氣壓為0.75Pa,射頻功率為224W,濺射時(shí)間為1.5h,基體溫度為550℃,
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 磁控濺射法制備YSZ電解質(zhì)薄膜及其在SOFC中的應(yīng)用.pdf
- 磁控濺射法制備ZnO薄膜.pdf
- 磁控濺射法制備薄膜材料綜述
- 磁控濺射法制備PZT薄膜研究.pdf
- 磁控濺射法制備ZnO薄膜及其特性研究.pdf
- 磁控濺射法制備Zr-Cu合金薄膜.pdf
- 反應(yīng)磁控濺射法制備TiN薄膜的研究.pdf
- 磁控濺射法制備CNx薄膜及其性能研究.pdf
- 磁控濺射法制備ZnO薄膜及特性研究.pdf
- 磁控濺射法制備TiN顏色薄膜的研究.pdf
- 磁控濺射法制備SiC薄膜及其性能研究.pdf
- 射頻磁控濺射法制備環(huán)形器用YIG薄膜.pdf
- 磁控濺射法制備涂層導(dǎo)體緩沖層薄膜.pdf
- 脈沖磁控濺射法制備石英晶體諧振器的研究.pdf
- 磁控濺射法制備ITO薄膜及其光電性能研究.pdf
- 射頻磁控濺射法制備AlN薄膜及其特性研究.pdf
- 磁控濺射法制備氧化釩薄膜及其特性研究.pdf
- 磁控濺射法制備W-Cu薄膜的研究.pdf
- 磁控濺射法制備硼薄膜和硼納米線.pdf
- 射頻磁控濺射法制備ZnO薄膜及其性能研究.pdf
評論
0/150
提交評論