高精度測量電路快速啟動研究.pdf

1、本文主要研究了高精度測量電路的快速啟動問題。高精度測量電路啟動階段溫度變化劇烈，啟動后溫度平衡的建立時間長，導致電路零偏和標度因數(shù)變化劇烈，需要通過校準來減小。同時，電路的零偏和標度因數(shù)會在使用過程中緩慢漂移，同樣需要校準來減小。老化試驗可以提高電路參數(shù)的穩(wěn)定性，溫度場均勻化可以縮短電路啟動后溫度穩(wěn)定所需的時間，還可以降低電路溫度穩(wěn)定時的溫度。
　　 首先研究了電路啟動瞬時的零偏快速校準。電路啟動階段零偏變化劇烈且穩(wěn)定時間長，同

2、時零偏還會隨著使用緩慢漂移。電路啟動階段溫度變化劇烈，實際溫度信息不能得到。本文用時間代替溫度值，采用分段建模的方法在電路啟動瞬時準確預報了溫度穩(wěn)定后的零偏值，進而對零偏校準。校準后電路零偏能在啟動后快速達到穩(wěn)定，零偏重復性得到顯著改善。
　　 其次研究了電路啟動瞬時的標度因數(shù)快速校準。電路啟動階段標度因數(shù)變化劇烈且穩(wěn)定時間長，同時標度因數(shù)會在使用過程中緩慢漂移。電路在啟動階段溫度劇烈變化且溫度穩(wěn)定時間長，我們無法對標度因數(shù)校準

3、。通過改進電路，使標度因數(shù)校準變得可能。利用電路啟動瞬時的校準標度因數(shù)校準溫度穩(wěn)定后的電路標度因數(shù)并修正標度因數(shù)的漂移，減小了溫度對電路標度因數(shù)的影響，改善了標度因數(shù)重復性。
　　 再次研究了高溫老化對提高電路參數(shù)穩(wěn)定性的作用。分析了老化試驗的作用，選取Arrhenius模型作為高溫加速老化模型，搭建了高溫老化試驗平臺，最后通過實驗驗證了高溫老化的作用。老化后電路的零偏重復性得到顯著改善，電路參數(shù)更加穩(wěn)定。
　　 然后研