高精度模擬測(cè)量電路精度增長(zhǎng)方法的研究.pdf

1、本文對(duì)高精度模擬測(cè)量電路精度增長(zhǎng)的方法進(jìn)行研究，通過對(duì)已有的精度增長(zhǎng)方法進(jìn)行研究，在此基礎(chǔ)上提出一些方法來(lái)降低測(cè)量電路的系統(tǒng)噪聲、提高測(cè)量電路的穩(wěn)定性和減小測(cè)量電路的溫度漂移，最終提高測(cè)量電路的測(cè)量精度，實(shí)現(xiàn)精度增長(zhǎng)。
　　 論文對(duì)模擬測(cè)量電路中幾個(gè)關(guān)鍵的精度指標(biāo)(系統(tǒng)噪聲、穩(wěn)定性、溫度系數(shù)、誤差限和線性度)的評(píng)價(jià)方法進(jìn)行研究，以評(píng)價(jià)各種精度增長(zhǎng)方法的優(yōu)劣，為實(shí)現(xiàn)精度增長(zhǎng)的方法提供評(píng)價(jià)依據(jù)。此外，還介紹了幾個(gè)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，主要有電流

2、測(cè)量電路、基于通用接口總線-通用串行總線接口(General Purpose Interface Bus-Universal Serial Bus，GPIB-USB)的數(shù)字萬(wàn)用表自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和基于通用串行總線接口(Universal Serial Bus，USB)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，為實(shí)現(xiàn)精度增長(zhǎng)的方法提供實(shí)驗(yàn)條件。
　　 利用評(píng)價(jià)方法和實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，本文對(duì)改進(jìn)電路設(shè)計(jì)、多路融合技術(shù)、自校準(zhǔn)設(shè)計(jì)、電老化等幾種精度增長(zhǎng)方法進(jìn)行原理論證及實(shí)

3、驗(yàn)分析，從不同方面降低測(cè)量電路的系統(tǒng)噪聲和提高測(cè)量電路的穩(wěn)定性，最終實(shí)現(xiàn)精度增長(zhǎng)。此外，本文提出了一種通過測(cè)試元器件參數(shù)，挑選元器件的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)精度增長(zhǎng)，分析了測(cè)量電路中三個(gè)主要元器件(運(yùn)放、基準(zhǔn)源和A/D轉(zhuǎn)換器)對(duì)系統(tǒng)噪聲及溫度特性的影響，并分別設(shè)計(jì)了元器件挑選電路，挑選出噪聲低、溫度系數(shù)低的元器件，應(yīng)用在實(shí)際的測(cè)量電路中，實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，此方法可以有效的降低系統(tǒng)噪聲、減小溫度系數(shù)，實(shí)現(xiàn)精度增長(zhǎng)。
　　 在文章的最后提出了本文的