基于ARM的模擬電路多參數(shù)測(cè)量.pdf

1、目前對(duì)模擬電路而言，研究者們大都關(guān)注于它在實(shí)際電路中的應(yīng)用，而對(duì)模擬電路自身參數(shù)的研究卻比較少。但是模擬電路的自身參數(shù)在實(shí)際應(yīng)用中也很重要?，F(xiàn)在對(duì)模擬電路參數(shù)的分析和測(cè)量主要有硬件和軟件兩種方法。硬件測(cè)量方法基本是采用如掃頻儀等的電子設(shè)備對(duì)模擬電路進(jìn)行測(cè)量。而軟件測(cè)量方法主要是采用仿真軟件或虛擬儀器對(duì)模擬電路進(jìn)行測(cè)量。
　　由于現(xiàn)有的電子儀器大都比較復(fù)雜和昂貴，應(yīng)用并不方便；而現(xiàn)有的仿真軟件首先是元件庫不完整，還有就是虛擬元件和實(shí)

2、際元件畢竟存在著誤差，所以經(jīng)過分析后本論文提出了基于ARM的模擬電路多參數(shù)測(cè)量方法。并且完成和做出了對(duì)應(yīng)的測(cè)量系統(tǒng)。本系統(tǒng)使用 STM32系列的ARM芯片作為控制部分，通過軟、硬件結(jié)合的方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)模擬電路多參數(shù)的測(cè)量。
　　本文主要工作概括如下：
　　(1)介紹了模擬電路參數(shù)測(cè)量的發(fā)展現(xiàn)狀、研究背景和研究意義。對(duì)現(xiàn)有的測(cè)量方法進(jìn)行了總結(jié)，并將這些方法與本系統(tǒng)的方法做了相應(yīng)的對(duì)比分析。
　　(2)實(shí)現(xiàn)了ARM的整體設(shè)

3、計(jì)，包括控制DDS信號(hào)源產(chǎn)生信號(hào)、對(duì)信號(hào)的采集、對(duì)數(shù)據(jù)的處理和計(jì)算、控制液晶顯示測(cè)試結(jié)果等。介紹了所用的信號(hào)源AD9854的工作原理和它與ARM之間的連接以及控制流程。
　　(3)硬件檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)是本文的重點(diǎn)，檢測(cè)電路主要包括阻抗/電壓轉(zhuǎn)換電路、頻率特性測(cè)量電路、乘法器電路和濾波電路等部分。阻抗/電壓轉(zhuǎn)換電路和頻率特性測(cè)量電路實(shí)現(xiàn)對(duì)模擬電路信號(hào)的提取，乘法器電路實(shí)現(xiàn)對(duì)信號(hào)的加工，濾波電路實(shí)現(xiàn)對(duì)信號(hào)的處理。
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