Pt簇—石墨烯復(fù)合體的界面相互作用及電子結(jié)構(gòu).pdf_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

1、本文采用密度泛函方法對(duì)Pt簇和理想石墨烯、單空位缺陷石墨烯、雙空位缺陷石墨烯及其復(fù)合體的穩(wěn)定性、電子結(jié)構(gòu)及界面相互作用進(jìn)行了理論研究。
　　缺陷石墨烯的穩(wěn)定性低于理想石墨烯，但與Pt簇等金屬簇結(jié)合更穩(wěn)定，在作為基底時(shí)可以抑制納米金屬簇的團(tuán)聚，延長(zhǎng)其使用壽命。在常見(jiàn)的兩種石墨烯點(diǎn)缺陷中，雙空位缺陷的穩(wěn)定性要明顯優(yōu)于單空位缺陷，生成能更低且難以遷移。
　　功函和電子透射譜的計(jì)算結(jié)果表明，當(dāng)Pt簇嵌入缺陷石墨烯后，因缺陷存在而損失

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