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文檔簡介
1、為滿足微波毫米波測試儀器及系統(tǒng)需求,順應儀器小型化和模塊化發(fā)展趨勢,特別針對Ku和Ka波段上下變頻裝置和PXI總線微波毫米波測試儀器及系統(tǒng)需求,設計了小型化低相位噪聲微波振蕩器和PXI模塊低相位噪聲微波振蕩器。
首先,闡述了微波振蕩器的設計技術及方案,比較了各方案的優(yōu)缺點。通過對Ku和Ka波段上下變頻裝置中微波振蕩器指標分析,選擇了單環(huán)鎖項式頻率合成技術方案。
其次,基于鎖相環(huán)相位噪聲計算方法,計算了不同鑒相頻率、鑒
2、相器靈敏度、環(huán)路帶寬鎖相環(huán)的相位噪聲,分析了鎖相環(huán)相位噪聲最主要的影響因素,得出了微波振蕩器實現低相位噪聲的電路參數和鎖相芯片的配置參數,解決了微波振蕩器低相位噪聲的關鍵技術。
然后,基于單片集成鎖相環(huán)芯片HMC704LP4E和集成VCO芯片V940ME24-LF設計了微波振蕩器電路,較好的實現了微波振蕩器的小型化。利用Altuim Designer10.0電路設計軟件微波振蕩器的PCB進行了設計,利用中電四十一所測試設備測試
3、了實物的指標。測試結果表明,振蕩器的相位噪聲指標與理論計算值基本一致,且達到設計指標。驗證了設計方案的有效性和可行性,可滿足實際的工程應用。
最后,通過對PXI模塊微波振蕩器指標分析,選擇了混頻鎖相式頻率合成技術方案,設計了PXI總線接口和微波振蕩器,同時詳細介紹了電路設計過程和計算了不同 N分頻比微波振蕩器輸出相位噪聲指標,通過比較得出了混頻鎖相電路的最佳參數設置,實現了微波振蕩器的低相位噪聲指標的要求。在此基礎上,介紹了P
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