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文檔簡介
1、目前的硬盤驅(qū)動器,磁頭飛行高度一般在10nm左右,而一顆普通塵粒的直徑≥0.3μm,一旦高速運轉(zhuǎn)的磁頭碰到這種塵粒,就會造成磁頭損傷或者碟面劃傷,從而導致硬盤報廢。本課題通過對硬盤塵粒的分析研究,以期改善這一點。
硬盤生產(chǎn)中防塵研究主要集中在“潔凈的環(huán)境”和“干凈的零部件”這兩個方面,論文通過大量的實驗研究來分析塵粒的來源,并提出相應的防塵除塵措施,良好的無塵室控制可以滿足“潔凈的環(huán)境”的要求,而采用改善后的超聲波清洗參數(shù)則可
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