基于失效物理的電子系統(tǒng)可靠性預(yù)計(jì)研究及實(shí)現(xiàn).pdf

1、可靠性預(yù)計(jì)是產(chǎn)品研發(fā)過(guò)程中的一項(xiàng)重要工作，全面準(zhǔn)確的可靠性預(yù)計(jì)不僅可以評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性水平，也可以為設(shè)計(jì)人員提供信息，進(jìn)而指導(dǎo)可靠性設(shè)計(jì)。目前，國(guó)內(nèi)實(shí)施可靠性預(yù)計(jì)，還仍然使用的是基于數(shù)理統(tǒng)計(jì)學(xué)思想的傳統(tǒng)手冊(cè)/標(biāo)準(zhǔn)式可靠性預(yù)計(jì)方法?；谑锢淼目煽啃灶A(yù)計(jì)分析方法，作為全面符合IEEE1413—電子系統(tǒng)和設(shè)備可靠性預(yù)測(cè)和評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)的方法，由于其技術(shù)的先進(jìn)性與科學(xué)性，已經(jīng)逐步成為替代傳統(tǒng)手冊(cè)式預(yù)計(jì)方法的新的可靠性預(yù)計(jì)分析方法。
　　本論

2、文按失效物理分析流程，主要完成了如下工作：
　　首先分析了電子元器件常見失效模式，以及引起這些失效模式的典型失效機(jī)理，并針對(duì)元器件級(jí)的可靠性預(yù)計(jì)，分別推導(dǎo)了電子元器件典型的六種失效機(jī)理對(duì)應(yīng)的單一失效機(jī)理可靠性預(yù)計(jì)模型，并在單一失效機(jī)理可靠性預(yù)計(jì)模型的基礎(chǔ)上推導(dǎo)得出了多失效機(jī)理下器件的可靠性預(yù)計(jì)模型。
　　然后針對(duì)系統(tǒng)級(jí)的可靠性預(yù)計(jì)，本文分析了常見電子系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，以及構(gòu)建了系統(tǒng)可靠性模型。根據(jù)系統(tǒng)可靠性預(yù)計(jì)需要，本文還著重研究并

3、推導(dǎo)了多失效機(jī)理下包含多個(gè)器件或子系統(tǒng)的系統(tǒng)可靠性模型，也探究了可靠性預(yù)計(jì)與失效模式、機(jī)理及影響分析相結(jié)合的可靠性評(píng)估方法。
　　最后，本文對(duì)所研究的基于失效物理的可靠性預(yù)計(jì)理論進(jìn)行了軟件實(shí)現(xiàn)，即電子系統(tǒng)可靠評(píng)估軟件Reliasis。該軟件通過(guò)讀入電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)工程文件，就可以直觀的顯示電子系統(tǒng)組成，以及系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。在此基礎(chǔ)上就可以便捷的進(jìn)行電子元器件及系統(tǒng)的可靠性預(yù)計(jì)。本文第四章詳細(xì)介紹了軟件的設(shè)計(jì)，并以實(shí)際電子硬件系統(tǒng)作為實(shí)例分析