基于TMS320C6747陣列的超聲無損檢測的實(shí)時(shí)處理平臺(tái).pdf

1、超聲檢測作為應(yīng)用最為廣泛的無損檢測方法之一在我國的工業(yè)現(xiàn)代化進(jìn)程中起著越來越重要的作用,隨著電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展,超聲檢測正在朝著數(shù)字化、自動(dòng)化、智能化和圖像化方向發(fā)展。超聲波衍射時(shí)差檢測法是基于接收回波信號(hào)之間的時(shí)間差進(jìn)行缺陷高度和位置的測量,而非傳統(tǒng)的超聲檢測采用回波信號(hào)強(qiáng)度進(jìn)行測量,因而在缺陷的定性定量方面更加的準(zhǔn)確可靠。但TOFD必須結(jié)合B掃描才能對缺陷進(jìn)行精確的定位,本論文采用的是基于TOFD和雙橢圓定位技術(shù)相結(jié)合的

2、定位測量方法TOFD-LWE(Time of Flight Diffraction and Locating with Ellipse),實(shí)現(xiàn)了無需B掃描就可以獲得缺陷二、三維幾何特征參數(shù)。
　　 本論文首先在理論上對TOFD和TOFD-LWE技術(shù)做了闡述,指出。TOFD-LWE技術(shù)的優(yōu)勢和TOFD-LWE檢測系統(tǒng)的構(gòu)成。重點(diǎn)介紹了檢測系統(tǒng)中的實(shí)時(shí)信號(hào)處理平臺(tái),本處理平臺(tái)采用兩片TI公司的TMS320C6747作為核心處理器構(gòu)成

3、的并行信號(hào)處理機(jī),對其硬件結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)做了詳細(xì)的介紹,包括與ARM和FPGA之間的接口電路設(shè)計(jì)。其中該處理平臺(tái)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)是本設(shè)計(jì)中的重點(diǎn)和難點(diǎn),可以根據(jù)不同的管材進(jìn)行不同的信號(hào)處理算法而靈活的改變數(shù)據(jù)流的分配,增強(qiáng)了超聲檢測系統(tǒng)的靈活性和精確性。此外該處理平臺(tái)還可以作為通用信號(hào)處理平臺(tái)應(yīng)用于其它的場合,具有良好的擴(kuò)展性,增加了本系統(tǒng)的實(shí)用性。
　　 論文最后介紹了該實(shí)時(shí)處理平臺(tái)的軟件設(shè)計(jì),包括EDMA方式的數(shù)據(jù)傳輸,McASP數(shù)據(jù)