MCP與熒光屏組件噪聲特性測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)研究.pdf

1、微通道板(MCP)與熒光屏組件是微光像增強(qiáng)器的重要組成部件。MCP因其優(yōu)異的電子倍增功能而成為微光像增強(qiáng)器核心部件，熒光屏作為像增強(qiáng)器的輸出端，實(shí)現(xiàn)了將電信號(hào)轉(zhuǎn)化為人眼能夠識(shí)別光信號(hào)輸出。但目前國(guó)內(nèi)尚無有效的評(píng)價(jià)手段能夠用于MCP與熒光屏組件的噪聲特性。本文圍繞著MCP與熒光屏組件噪聲特性測(cè)試技術(shù)展開了研究。
　　 分析了MCP的倍增原理和熒光屏的發(fā)光機(jī)理以及像增強(qiáng)器噪聲因子理論公式，并進(jìn)一步研究了像管各個(gè)組成部分的噪聲特性。在

2、此基礎(chǔ)上給出了MCP與熒光屏組件的輸出信噪比數(shù)學(xué)表達(dá)式及測(cè)試方法。
　　 借鑒已有的測(cè)試技術(shù)和科研設(shè)備，根據(jù)MCP與熒光屏組件噪聲特性測(cè)試的測(cè)試方法和實(shí)驗(yàn)要求，研制了一套基于模擬像增強(qiáng)器內(nèi)工作環(huán)境的MCP與熒光屏組件的噪聲特性測(cè)試系統(tǒng)。
　　 設(shè)計(jì)了特殊的機(jī)械結(jié)構(gòu)使得轉(zhuǎn)盤與上蓋和下蓋形成遮光系統(tǒng)，進(jìn)而使得測(cè)試系統(tǒng)的背景照度小于10-5lx。通過靜力學(xué)、重力場(chǎng)和熱應(yīng)力場(chǎng)耦合、模態(tài)有限元分析方法對(duì)機(jī)械系統(tǒng)進(jìn)行分析研究。光學(xué)結(jié)

3、構(gòu)設(shè)計(jì)時(shí)，考慮溫度變化對(duì)其的影響。針對(duì)光窗的特殊工作環(huán)境，采用ABAQUS有限元軟件對(duì)其進(jìn)行重力場(chǎng)和熱應(yīng)力場(chǎng)耦合分析，驗(yàn)證設(shè)計(jì)時(shí)的理論計(jì)算結(jié)果。
　　 為了驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)的性能能夠滿足實(shí)驗(yàn)要求，首先對(duì)真空系統(tǒng)進(jìn)行了日常使用性能測(cè)試和真空極限測(cè)試。對(duì)不同鍍膜情況的MCP與熒光屏組件的輸出信噪比進(jìn)行測(cè)試和不同燈絲電流對(duì)MCP與熒光屏組件的輸出信噪比進(jìn)行測(cè)試，給出了實(shí)驗(yàn)結(jié)果。通過分析實(shí)驗(yàn)結(jié)果，驗(yàn)證了測(cè)試方法可行性以及測(cè)試系統(tǒng)可靠性、準(zhǔn)確