基于LabVIEW的石英晶片檢測系統(tǒng).pdf

1、在當(dāng)今生產(chǎn)力高速發(fā)展，企業(yè)生產(chǎn)效率極大提高的時代中，越來越多的基于機器視覺與圖像處理技術(shù)的自動化儀器替代了簡單、機械式人工操作環(huán)節(jié)。針對現(xiàn)今石英晶片外觀缺陷檢測主要依靠人工目檢方式且不可避免地存在很多弊端，本文介紹了一種基于LabVIEW的石英晶片外觀檢測系統(tǒng)。系統(tǒng)的成功研發(fā)將改變晶片生產(chǎn)行業(yè)現(xiàn)狀，具備廣闊的市場前景。
　　 文章首先回顧了石英晶片外觀缺陷檢測的國內(nèi)外現(xiàn)狀及缺陷檢測技術(shù)，PLC及LabVIEW的應(yīng)用。接著從系統(tǒng)的

2、研究目標(biāo)出發(fā)，提出了系統(tǒng)的總體設(shè)計方案以及需要克服的設(shè)計難點，總結(jié)出系統(tǒng)的必要模塊:軟件模塊、圖像處理模塊、電氣模塊和機械模塊。進料、取片、檢片、分檔為下位機四個子系統(tǒng)，詳盡地從硬件的選取及搭建開始，到整體平臺效果圖的繪制，討論了下位機模塊及流程由分到總的控制方案。上位機由LabVIEW編寫，介紹了包括USB數(shù)字攝像機的外部硬件觸發(fā)模塊在內(nèi)的通信模塊，圖像采集與處理模塊;定位檢測以及缺陷檢測的圖像處理模塊承擔(dān)了本系統(tǒng)最重要的責(zé)任。最后給