基于LabVIEW的石英晶片檢測(cè)系統(tǒng).pdf

1、在當(dāng)今生產(chǎn)力高速發(fā)展，企業(yè)生產(chǎn)效率極大提高的時(shí)代中，越來(lái)越多的基于機(jī)器視覺與圖像處理技術(shù)的自動(dòng)化儀器替代了簡(jiǎn)單、機(jī)械式人工操作環(huán)節(jié)。針對(duì)現(xiàn)今石英晶片外觀缺陷檢測(cè)主要依靠人工目檢方式且不可避免地存在很多弊端，本文介紹了一種基于LabVIEW的石英晶片外觀檢測(cè)系統(tǒng)。系統(tǒng)的成功研發(fā)將改變晶片生產(chǎn)行業(yè)現(xiàn)狀，具備廣闊的市場(chǎng)前景。
　　 文章首先回顧了石英晶片外觀缺陷檢測(cè)的國(guó)內(nèi)外現(xiàn)狀及缺陷檢測(cè)技術(shù)，PLC及LabVIEW的應(yīng)用。接著從系統(tǒng)的

2、研究目標(biāo)出發(fā)，提出了系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)方案以及需要克服的設(shè)計(jì)難點(diǎn)，總結(jié)出系統(tǒng)的必要模塊:軟件模塊、圖像處理模塊、電氣模塊和機(jī)械模塊。進(jìn)料、取片、檢片、分檔為下位機(jī)四個(gè)子系統(tǒng)，詳盡地從硬件的選取及搭建開始，到整體平臺(tái)效果圖的繪制，討論了下位機(jī)模塊及流程由分到總的控制方案。上位機(jī)由LabVIEW編寫，介紹了包括USB數(shù)字?jǐn)z像機(jī)的外部硬件觸發(fā)模塊在內(nèi)的通信模塊，圖像采集與處理模塊;定位檢測(cè)以及缺陷檢測(cè)的圖像處理模塊承擔(dān)了本系統(tǒng)最重要的責(zé)任。最后給