陣列式自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法研究.pdf

1、AOI(Automated Optical Inspection)為自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是用高性能數(shù)碼相機(jī)(camera)攝取影像，而影像是由像素組成，系統(tǒng)將實(shí)際影像進(jìn)行分析，與標(biāo)準(zhǔn)影像比對(duì)之后，即可判定是通過(guò)或錯(cuò)誤，稱(chēng)為pixel grid processing，屬于一種外觀檢驗(yàn)的方式。隨著產(chǎn)業(yè)工藝進(jìn)化，元件微型化趨勢(shì)不斷推進(jìn)，AOI在SMT（表面貼裝技術(shù)）業(yè)內(nèi)蓬勃發(fā)展，新的元件規(guī)格對(duì)原有的AOI系統(tǒng)的處理精度及速度提出了挑戰(zhàn)，而另一種AO

2、I系統(tǒng)架構(gòu)更顯優(yōu)勢(shì)：陣列影像偵測(cè)系統(tǒng)。
　　 針對(duì)影像模組，為適應(yīng)里面的硬件式編和各存儲(chǔ)器大小的限制，提出了圖像數(shù)值化的檢測(cè)方法，是用圖像的幾項(xiàng)特征值代表圖像本身進(jìn)行檢測(cè)。
　　 對(duì)于PC本身，提出了圖像對(duì)比方法，這時(shí)一種模版匹配方法，是計(jì)算檢測(cè)圖與模版圖（標(biāo)準(zhǔn)圖）的相似程度一種檢測(cè)方法。在檢測(cè)前，進(jìn)行了放縮與模糊的操作。
　　 針對(duì)元件、電路板上的文字本身，提出了文字投射檢測(cè)方法，這是用文字進(jìn)行投影后，計(jì)算投影