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1、純六方氮化硼(hBN)是一種直接帶隙寬禁帶半導(dǎo)體,其禁帶寬度接近6eV,在紫外發(fā)光器件及高頻電子器件領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用前景。
本研究采用微波等離子體化學(xué)氣相沉積(CVD)方法制備hBN薄膜,探索催化劑對(duì)hBN薄膜CVD生長(zhǎng)的影響規(guī)律,目的是通過(guò)在CVD過(guò)程中引入催化劑的作用獲得高結(jié)晶的hBN薄膜。反應(yīng)氣源采用He-N2-BF3-H2的氣體,基材采用(100)取向的單晶Si片。研究了催化劑的選擇及其制備工藝以及CVD工藝參數(shù)對(duì)薄
2、膜質(zhì)量的影響,并初步探索了催化生長(zhǎng)的hBN薄膜的發(fā)光性質(zhì)。
首先對(duì)金屬催化劑進(jìn)行了篩選,較為系統(tǒng)地研究了催化劑薄膜的制備工藝?;谝延形墨I(xiàn)和有關(guān)熱力學(xué)數(shù)據(jù),選擇鎳和鉬及其合金作為本實(shí)驗(yàn)的催化劑,研究發(fā)現(xiàn)鉬和鎳鉬合金的催化效果明顯。催化劑的制備采用磁控濺射方法在硅基材上沉積,并施加后續(xù)退火工藝改善催化劑的質(zhì)量,通過(guò)退火催化劑薄膜表面形貌更加均勻,結(jié)晶性改善。主要利用拉曼光譜表征了hBN薄膜的結(jié)晶度,測(cè)試表明采用催化劑生長(zhǎng)的hBN
3、薄膜其拉曼峰半高寬比直接在硅襯底上生長(zhǎng)的薄膜明顯窄化。研究了后續(xù)退火工藝對(duì)催化劑上生長(zhǎng)的hBN薄膜質(zhì)量的影響,結(jié)果表明后續(xù)退火有助于結(jié)晶質(zhì)量的進(jìn)一步提高,退火后的催化劑其催化效果更加明顯。
同時(shí)研究了CVD工藝參數(shù)主要是壓強(qiáng)及偏壓對(duì)hBN薄膜質(zhì)量的影響,研究發(fā)現(xiàn)工作氣壓對(duì)薄膜的生長(zhǎng)速率影響很大。過(guò)低的氣壓下薄膜的生長(zhǎng)速率過(guò)低,而過(guò)高的氣壓導(dǎo)致結(jié)晶性的惡化,較為適合的工作壓強(qiáng)是6 kPa,在該氣壓下,薄膜生長(zhǎng)速度適中,薄膜結(jié)晶性
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