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文檔簡介
1、本論文工作是圍繞課題組承擔(dān)的國家重點(diǎn)基礎(chǔ)研究發(fā)展規(guī)劃(973計(jì)劃)項(xiàng)目(No:2010CB327600)、國家863計(jì)劃項(xiàng)目(No:2009AA03Z405,2009AA03Z417)、高等學(xué)校學(xué)科創(chuàng)新引智計(jì)劃(No:B07005)、國際科技合作重點(diǎn)項(xiàng)目(No:2006DFB11110)、新世紀(jì)優(yōu)秀人才支持計(jì)劃資助(No:NCET-08-0736)、中央高?;究蒲袠I(yè)務(wù)費(fèi)資助(No:BUPT2009RC0409,BUPT2009RC04
2、10)、教育部“長江學(xué)者和創(chuàng)新團(tuán)隊(duì)發(fā)展計(jì)劃”(No:IRT0609)展開的。
低維半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)構(gòu)本身有很多的優(yōu)點(diǎn),在低維結(jié)構(gòu)中,半導(dǎo)體納米線(或者量子線)由于具有眾多獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)而在新一代電子、光電器件以及系統(tǒng)中有著廣闊的應(yīng)用前景。利用自下而上的外延生長方法所制備的納米線具有很多優(yōu)點(diǎn),比如高的晶體質(zhì)量、生長方向更易于控制、易于形成有序的自支撐納米線陣列、更易于集成等。半導(dǎo)體納米線材料的合成技術(shù)和控制生長方法對納米線結(jié)構(gòu)和器件
3、的發(fā)展有著舉足輕重的作用,對于納米線的研究不僅要解決其外延生長的問題(如晶體質(zhì)量控制、摻雜、實(shí)驗(yàn)的可重復(fù)性等),還要解決納米線的位置控制、生長方向和形貌控制、納米線器件的制備以及相關(guān)功能集成等問題。目前,納米線生長面臨的主要問題包括:生長控制、異質(zhì)結(jié)構(gòu)制備、摻雜、基于Si襯底的功能集成。本論文圍繞著Ⅲ-V族半導(dǎo)體納米線以及相關(guān)異質(zhì)結(jié)構(gòu)的外延生長問題開展了大量的理論和實(shí)驗(yàn)工作,對于InP、GaAs、GaP、InAs、InGaAs納米線和相
4、關(guān)納米線異質(zhì)結(jié)構(gòu)的生長機(jī)制和優(yōu)化生長開展了系統(tǒng)的理論分析和實(shí)驗(yàn)創(chuàng)新。主要研究成果如下所述:
1、在GaAs納米線生長方面取得重要進(jìn)展。探索了Au輔助生長GaAs納米線的最佳生長條件,利用低壓金屬有機(jī)物化學(xué)氣相沉積(LP-MOCVD)技術(shù)在GaAs(111)襯底上生長出高質(zhì)量的GaAs納米線,TEM測試顯示所生長的GaAs納米線是無缺陷的純閃鋅礦結(jié)構(gòu)。研究表明: TMGa在Au-Ga合金液滴表面為選擇性裂解,生長過程中吸附原
5、子擴(kuò)散對軸向生長的貢獻(xiàn)可以忽略,所以合金液滴的過飽和度在生長過程中能保持穩(wěn)定,從而實(shí)現(xiàn)無缺陷的納米線生長。
2、探索了金薄膜厚度與GaAs納米線的密度、直徑分布和生長速率的關(guān)系,實(shí)現(xiàn)了不同直徑和密度GaAs納米線的等高生長。測試結(jié)果顯示GaAs納米線的密度隨著金薄膜厚度的增加而減小,平均直徑和生長速度隨著金薄膜的厚度增加而增加。研究表明:納米線的等高生長源于反應(yīng)室中高的過飽和度,而合金顆粒密度越大,覆蓋率就越大,氣相源分子
6、的收集面積越小導(dǎo)致生長速度隨密度的增加而減小。
3、首次實(shí)現(xiàn)了Si基無缺陷純閃鋅礦結(jié)構(gòu)GaAs納米線的生長。在Si(111)襯底上,首先生長GaAs/AlGaAs緩沖層,利用雙溫生長技術(shù),生長出無缺陷純閃鋅礦結(jié)構(gòu)GaAs納米線。研究表明應(yīng)用緩沖層技術(shù)可以有效地釋放失配應(yīng)變,突破納米線大失配異質(zhì)外延的臨界直徑限制,并且緩沖層可以有效阻擋Au原子向襯底擴(kuò)散以及襯底Si原子向納米線擴(kuò)散。
4、分析了GaP和InP納
7、米線的生長特點(diǎn)。討論了在Si(111)襯底上生長了GaP納米線的形貌和生長特點(diǎn)。討論了InP(100)襯底上生長具有K型、瓶型、Y型、L型等復(fù)雜形貌的InP納米線,分析了襯底取向、擴(kuò)散原子、Gibbs-Thomson效應(yīng)等的影響以及生長動(dòng)力學(xué)過程??疾炝薎nP(111)襯底上生長InP納米線的生長特點(diǎn)。
5、探索了InP/GaAs、InAs/GaAs軸向異質(zhì)結(jié)構(gòu)納米線的生長特點(diǎn)。討論了不同半導(dǎo)體材料串接生長軸向納米線異質(zhì)結(jié)
8、構(gòu)時(shí)出現(xiàn)的生長方向混亂現(xiàn)象,研究表明不同材料串接生長成異質(zhì)結(jié)構(gòu)納米線時(shí)受到界面能差異和臨界直徑的限制。
6、應(yīng)用彈性力學(xué)模型分析了含有組分漸變緩沖層的軸向異質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)變與應(yīng)力分布。研究表明漸變緩沖段單層越薄越能有效釋放應(yīng)變,并且該結(jié)構(gòu)可以顯著改善軸向串接納米線生長的界面能,突破納米線異質(zhì)外延臨界直徑的限制。
7、首次實(shí)現(xiàn)了InAs/InχGa1-χAs/GaAs軸向雙異質(zhì)結(jié)構(gòu)的生長,并實(shí)現(xiàn)了GaAs/AlGa
9、As軸向多量子阱和徑向“核-殼”異質(zhì)結(jié)構(gòu)的控制生長。利用插入InχGa1-χAs組分漸變緩沖段實(shí)現(xiàn)了InAs/InχGa1-χAs/GaAs軸向雙異質(zhì)結(jié)構(gòu)。TEM測試表明,所生長的InAs段納米線是具有周期孿晶面結(jié)構(gòu)的純閃鋅礦結(jié)構(gòu),組分漸變緩沖段可以有效的釋放應(yīng)變和應(yīng)力,克服界面能差異引起的生長方向紊亂。通過控制生長溫度分別抑制徑向和軸向生長得到GaAs/AlGaAs軸向多量子阱和徑向“核-殼”異質(zhì)結(jié)構(gòu)。15K PL譜測試表明,徑向“核
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