集成電路測試儀控制模塊及驅(qū)動設(shè)計(jì).pdf

1、分類號密級UDC注1學(xué)位論文集成電路測試儀集成電路測試儀控制模塊及驅(qū)動設(shè)計(jì)控制模塊及驅(qū)動設(shè)計(jì)（題名和副題名）王寅王寅（作者姓名）指導(dǎo)教師詹惠琴教授教授電子科技大學(xué)電子科技大學(xué)成都成都（職務(wù)、職稱、學(xué)位、單位名稱及地址）申請學(xué)位級別碩士碩士專業(yè)名稱檢測技術(shù)與自動化裝置檢測技術(shù)與自動化裝置論文提交日期2011年4月論文答辯日期2011年6月學(xué)位授予單位和日期電子科技大學(xué)電子科技大學(xué)答辯委員會主席評閱人2007年月日注1：注明《國際十進(jìn)分類法

2、注明《國際十進(jìn)分類法UDC》的類號》的類號摘要I摘要集成電路生產(chǎn)企業(yè)的發(fā)展壯大對測試技術(shù)的也提出更高的要求，集成電路測試已成為集成電路制造中的關(guān)鍵技術(shù)之一。因此對集成電路測試技術(shù)和測試設(shè)備的研究具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。本論文主要闡述了模擬集成電路測試儀控制模塊和上位機(jī)USB接口部分設(shè)計(jì)，首先本文根據(jù)上一版集成電路測試儀所存在的不足和根據(jù)廠家提供改進(jìn)建議，對模擬集成電路測試儀的方案做了重新設(shè)計(jì)。在模擬集成電路測試儀中引入了CPU控制系統(tǒng)。使測

3、試儀可以實(shí)現(xiàn)脫機(jī)運(yùn)行，大大提高了模擬集成電路測試儀靈活性和穩(wěn)定性。在CPU板的設(shè)計(jì)部分本文選用了當(dāng)今廣泛使用的ARM做為處理器，同時根據(jù)測試儀對系統(tǒng)需求的要求設(shè)計(jì)了CPU配套的存儲系統(tǒng)，完成了CPU板原理圖的設(shè)計(jì)，并在布局布線前對原理圖做了信號完整性分析，提高了制板的成功率。本文根據(jù)測試儀啟動程序的特點(diǎn)定制了測試的引導(dǎo)程序CEFBOOT。在CEFBOOT中完成了設(shè)備驅(qū)動設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了通過通用接口與上位機(jī)通信的功能。根據(jù)測試儀與上位機(jī)數(shù)據(jù)通