模擬集成電路測試系統(tǒng)及網(wǎng)絡(luò)設(shè)計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目前，集成電路測試已經(jīng)成為了集成電路產(chǎn)業(yè)重要支撐技術(shù)，其中集成電路晶圓測試更是測試環(huán)節(jié)中的重要部分，是保證集成電路能夠正常工作的重要手段。本文設(shè)計的集成電路測試系統(tǒng)就屬于該階段的關(guān)鍵設(shè)備。
　　論文首先介紹了集成電路測試系統(tǒng)的發(fā)展歷史，然后分析了自動測試設(shè)備(ATE)的組成和分類，提出本項目所設(shè)計的集成電路測試系統(tǒng)的架構(gòu)。
　　本文所設(shè)計的集成電路測試系統(tǒng)包括測試機硬件部分和測試機中轉(zhuǎn)以及網(wǎng)絡(luò)部分，測試機硬件部分主要是基于

2、FPGA的信號采集、處理、發(fā)生模塊，包括時間測量單元(TMU)、任意波形發(fā)生器(AWG)、波形數(shù)字化儀(DIG)、精密測量單元(PMU)、差分電壓表(DVM)以及信號均方根值(RMS)模塊，功能模塊通過PCI總線設(shè)計與上位機通信，接收和發(fā)送上位機數(shù)據(jù)，內(nèi)部使用自定義總線完成數(shù)據(jù)傳輸。
　　測試機軟件部分主要是基于Windows系統(tǒng)的.NET Framework平臺的上位機軟件以及網(wǎng)絡(luò)程序，包括測試機中轉(zhuǎn)程序和服務(wù)器程序，能夠轉(zhuǎn)換不

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