目標粗糙表面對回波外差探測的影響.pdf

1、合成孔徑激光雷達(SAL)能夠獲得很高的空間分辨率，具有進行遠距離、大面積成像等諸多優(yōu)點，已經(jīng)成為國內(nèi)外研究的一個熱點。目標回波外差探測技術是SAL的一項核心技術，在很大程度上決定了SAL系統(tǒng)的性能。但目標表面粗糙特性導致回波外差效率嚴重下降，成為限制SAL技術應用的一個瓶頸。本文針對合成孔徑激光雷達中粗糙表面目標的光外差探測進行初步研究。
　　首先對光外差探測原理進行了分析，從而定義外差反射率，用于表征目標為粗糙表面時回波信號光

2、的“退相干”效應。再利用蒙特卡羅方法構(gòu)造二維高斯隨機粗糙面作為探測目標，建立光外差探測模型；分析了不同狀態(tài)下高斯隨機粗糙面對外差反射率的影響。
　　本文還對不同粗糙表面進行光外差探測實驗研究。在一定的實驗條件下，對鏡面與白紙的激光外差實驗結(jié)果進行對比分析，并對粗糙比較樣塊的光外差實驗進行分析。結(jié)果表明：目標表面的橫向起伏高度與縱向起伏頻率對外差中頻信號的影響都非常的強烈；所有的討論結(jié)果對于分析回波相位分布特征以及目標表面的起伏特性