平板顯示屏中缺陷識(shí)別算法的研究.pdf

1、隨著平板顯示器的推廣普及，價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)愈來(lái)愈激烈。降低制造成本成為各生產(chǎn)廠家面臨的最緊迫的任務(wù)，其中如何提高成品率特別是各種電極圖案制程的成品率更為重要。顯示技術(shù)不斷向精密化、集成電路一體化方向發(fā)展，平板顯示電極的線間距、線寬越來(lái)越精細(xì)。這在平板顯示電極圖形的制造過程中難免會(huì)出現(xiàn)質(zhì)量問題，帶來(lái)各種缺陷。存在的缺陷若未及時(shí)發(fā)現(xiàn)并加以修補(bǔ)，不僅會(huì)造成電極材料及相關(guān)物質(zhì)和人力的浪費(fèi)，而且也是平板顯示器成品率低、價(jià)格昂貴的因素之一，甚至?xí)档蜕a(chǎn)廠

2、家的質(zhì)量信譽(yù)，造成直接或間接的經(jīng)濟(jì)損失。
　　 以往對(duì)平板顯示器電極缺陷進(jìn)行檢查均采用人眼目視檢查或者使用電子探針接觸電極進(jìn)行檢查。這兩種方法不僅速度慢、效率低，而且檢查精度不夠，漏檢的幾率比較大，不適于大批量自動(dòng)化生產(chǎn)。所以為了克服上述檢查方法存在的缺點(diǎn)，基于光學(xué)視覺的自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。光學(xué)視覺自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)能夠?qū)﹄姌O圖形可能存在的缺陷進(jìn)行及時(shí)、快速和準(zhǔn)確的自動(dòng)化檢查。
　　 在自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中，圖像處理和識(shí)別對(duì)查