TFT-LCD顯示屏Mura缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)算法研究.pdf

1、TFT-LCD制造過(guò)程工序多、結(jié)構(gòu)復(fù)雜，顯示屏不可避免地存在各種視覺(jué)缺陷，視覺(jué)缺陷超過(guò)一定程度就會(huì)影響用戶(hù)的生理健康。顯示屏局部的亮度不均勻現(xiàn)象是最常見(jiàn)的一種視覺(jué)缺陷，這種缺陷被稱(chēng)為 Mura。當(dāng)前 Mura缺陷檢測(cè)主要依靠人眼，這種方法主觀性強(qiáng)、效率低，越來(lái)越不能適應(yīng)TFT-LCD顯示屏大批量、大尺寸的生產(chǎn)要求，迫切需要研究自動(dòng)缺陷檢測(cè)方法。Mura缺陷具有形狀不固定、對(duì)比度低、邊緣模糊、背景復(fù)雜等特點(diǎn)，是自動(dòng)缺陷檢測(cè)方法研究的難點(diǎn)所

2、在。
　　本文研究不依賴(lài)于人眼的Mura缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)算法。根據(jù)待檢測(cè)圖像的特點(diǎn)以及Mura缺陷檢測(cè)的難點(diǎn)，整個(gè)算法被設(shè)計(jì)為三部分：圖像預(yù)處理、缺陷分割和特征提取，核心算法是背景抑制。針對(duì)采集過(guò)程中引入的噪聲，經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)對(duì)比，采用巴特沃斯低通濾波器對(duì)圖像進(jìn)行降噪處理；為從圖像中分離出TFT-LCD顯示屏圖像，根據(jù)顯示屏與周?chē)矬w的對(duì)比度及其幾何特征，采用全局閾值法和Hough變換分割感興趣區(qū)域；針對(duì)圖像中存在的亮度不均勻現(xiàn)象，采用

3、標(biāo)準(zhǔn)模板圖像對(duì)亮度不均勻進(jìn)行校正，并保留Mura缺陷。缺陷分割分為背景抑制和缺陷修復(fù)兩部分。將TFT-LCD顯示屏背景灰度看作三維空間中一張光滑的曲面，采用雙三次B樣條擬合算法對(duì)背景進(jìn)行重構(gòu)，用原圖像減去背景圖像，達(dá)到背景抑制的目的；亮度不均勻區(qū)域經(jīng)過(guò)一系列算法處理后，可能會(huì)遭到破壞，通過(guò)對(duì)數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)中各種操作進(jìn)行適當(dāng)?shù)慕M合，能夠達(dá)到修復(fù)較大連通區(qū)域的目的，并可抑制較小的連通區(qū)域。特征提取的目的，一方面是為Mura缺陷的判定提供依據(jù)，另