TFt-LCD點(diǎn)線缺陷檢測圖像處理算法研究.pdf

1、薄膜晶體管液晶顯示器（TFT-LCD）產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅速，目前已經(jīng)成功取代了CRT顯示器。其中對面板進(jìn)行缺陷檢測是TFT-LCD生產(chǎn)線上重要的一部分，由于TFT-LCD面板結(jié)構(gòu)復(fù)雜，生產(chǎn)流程多，要求無塵的生產(chǎn)環(huán)境等各種因素，不可避免的會產(chǎn)生各種缺陷，在各種缺陷中點(diǎn)線缺陷所占的比例最高，所以研究對點(diǎn)線缺陷的檢測技術(shù)具有重要的意義。
　　論文在研究TFT-LCD面板結(jié)構(gòu)及顯示原理的基礎(chǔ)上，針對TFT-LCD面板表面圖像具有重復(fù)性的紋理背景的

2、特點(diǎn)，首先研究了抑制紋理背景的算法，通過抑制紋理背景進(jìn)行重構(gòu)圖像，最后研究對重構(gòu)圖中缺陷區(qū)域分割的算法和提取缺陷特征的算法，并對各種算法進(jìn)行實(shí)驗(yàn)分析。主要對以下幾點(diǎn)進(jìn)行了研究:
　　(1)研究了TFT-LCD面板的結(jié)構(gòu)、生產(chǎn)流程和顯示原理，對點(diǎn)線缺陷的產(chǎn)生原因進(jìn)行分析，并對點(diǎn)線缺陷進(jìn)行了分類，最后列出了常見的點(diǎn)線缺陷，為下面進(jìn)行缺陷檢測算法研究打下基礎(chǔ)。
　　(2)通過研究缺陷檢測圖像處理的算法，并針對點(diǎn)線缺陷的特點(diǎn)，主要對

3、以下兩種算法進(jìn)行了研究:一是在頻域中處理的二維傅里葉變換法;二是在時域中處理的奇異值分解法，最后對兩種算法進(jìn)行對比分析并實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。
　　(3)提出了結(jié)合雙邊濾波的加權(quán)模板差影檢測算法。提出的加權(quán)模板差影法處理可以消除亮度不均勻的影響，在實(shí)際生產(chǎn)中由于相機(jī)對焦等問題進(jìn)行差影處理后可能會有殘余的紋理背景點(diǎn)，針對此問題采用雙邊濾波進(jìn)行去除。對紋理背景抑制后圖像采用最大熵法分割缺陷區(qū)域，最后對分割的缺陷區(qū)域的特點(diǎn)進(jìn)行特征提取。