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文檔簡介
1、相位噪聲是表征頻率合成器頻譜純度的重要參數(shù)。ΣΔ調(diào)制的過取樣噪聲整形性能,將合成器鎖相環(huán)中小數(shù)分頻器產(chǎn)生的相位雜散轉(zhuǎn)換為高通型相位噪聲,再利用環(huán)路低通濾波特性加以濾除。因此,ΣΔ調(diào)制成為設(shè)計高性能小數(shù)分頻頻率合成器的必要措施。目前國內(nèi)的論文中,還沒有關(guān)于應(yīng)用ΣΔ調(diào)制的小數(shù)分頻頻率合成器噪聲模型的詳細(xì)理論研究,對ΣΔ調(diào)制的小數(shù)頻率合成器噪聲性能的驗證只能通過設(shè)計初期的仿真和實際的芯片測試來實現(xiàn)。因此,對ΣΔ調(diào)制的小數(shù)分頻頻率合成器噪聲模型
2、的研究對提高ΣΔ調(diào)制的小數(shù)分頻頻率合成器結(jié)構(gòu)性能起到指導(dǎo)性和啟發(fā)性作用。
本文深入分析了頻率合成和ΣΔ調(diào)制理論,在分析ΣΔ小數(shù)分頻頻率合成器線性模型的基礎(chǔ)上,提出了鎖相環(huán)路中的充電泵非線性對ΣΔ小數(shù)頻率合成器輸出端相位噪聲影響的理論模型。研究了充電泵增益不匹配的非線性對帶內(nèi)噪聲影響的理論模型;分析了在鑒相器輸入端時差服從高斯分布時,充電泵增益不匹配噪聲與ΣΔ調(diào)制器階數(shù)之間的關(guān)系。相位噪聲模型的建立為ΣΔ小數(shù)分頻頻率合成器的設(shè)計
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