2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
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1、Co-W(Mo)和Co-Pt合金由于具有較高的磁晶各向異性能,有望成為下一代高密度磁記錄介質(zhì)材料,因而得到廣泛的關(guān)注。然而,仍有一些基本問(wèn)題尚未徹底解決,嚴(yán)重限制了它們的應(yīng)用。例如,Co-W(Mo)體系在磁控濺射過(guò)程中容易出現(xiàn)非晶相以及相分離的不充分;Co-Pt合金薄膜垂直取向的有效控制及晶粒間較強(qiáng)的交換耦合作用等。本文通過(guò)磁控濺射技術(shù)沉積了一系列不同成分與厚度的Co-W(Mo)和Co-Pt合金薄膜,并利用振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(Vibrati

2、ng sample magnetometer,VSM)和X-射線衍射技術(shù)(X-Ray diffraction,XRD)對(duì)薄膜的結(jié)構(gòu)、生長(zhǎng)取向及磁性能進(jìn)行了較為深入的研究,探討了晶體結(jié)構(gòu)與磁性能之間的關(guān)系,同時(shí)揭示磁性層生長(zhǎng)取向控制的基本機(jī)理。獲得了如下的主要研究結(jié)果:
  通過(guò)實(shí)驗(yàn)和熱力學(xué)計(jì)算,研究了Co-W,Co-Mo,Co-Cr合金體系的非晶形成能力。Co-W室溫形成非晶的臨界成分為17.1 at.%W,Co-Mo室溫形成非晶

3、的臨界成分為18.7at.%Mo。三個(gè)體系非晶形成能力的大小關(guān)系為:Co-Mo>Co-W>>Co-Cr,熱力學(xué)計(jì)算與實(shí)驗(yàn)結(jié)果吻合較好。提高基板溫度、降低濺射氣壓可以促進(jìn)原子擴(kuò)散,使Co-Mo和Co-W形成HCP結(jié)構(gòu)臨界成分向高M(jìn)o(W)含量偏移。
  研究了Mo含量對(duì)Co-Mo二元合金薄膜晶體結(jié)構(gòu)和磁性能的影響,Ms隨Mo含量(12~20 at.%Mo)的非線性變化證明Co-Mo合金存在與Co-Cr類似的相分離行為。在Co-Mo中

4、添加Cu、Pb、Pt等元素,Cu和Pb對(duì)薄膜的Ms和Hc沒(méi)有顯著影響,Pt使得磁晶各向異性能提高從而增大Hc。與Co-Cr薄膜大不相同的是摻雜Cu、Pb并沒(méi)有在本質(zhì)上改善Co-Mo相分離的不充分性。
  在250℃的MgO(110)單晶基片上先后沉積Cr(100nm)下底層和不同厚度(9~80nm)的Co-11 at.%W磁性層,二者取向附生生長(zhǎng)關(guān)系為Cr(112)[111]//Co-W(10.0)[01.0]和Cr(112)[1

5、10]//Co-W(10.0)[00.1]。隨著膜厚的增加,Co-W在薄膜面內(nèi)的壓應(yīng)變(ε<0)由-0.3884%增大到-0.2711%,Co-W在薄膜法線方向拉應(yīng)變(ε>0)從0.7813%減小到0.5445%,相應(yīng)地Keff1由3.82×106 erg/cc減小到2.58×106 erg/cc。該結(jié)果表明通過(guò)設(shè)計(jì)磁性層和下底層之間的應(yīng)變狀態(tài),可以達(dá)到調(diào)節(jié)磁記錄介質(zhì)有效磁晶各向異性能的作用。
  在沒(méi)有任何下底層引導(dǎo)的情況下,在

6、玻璃基板上沉積了一系列不同Pt含量的Co-Pt薄膜,隨著Pt含量的增加,晶格常數(shù)(a,c)線性增大,c/a先減小而后增大,Hc出現(xiàn)先增大而后減小的變化,Pt含量在20 at.%時(shí),獲得了較高的Hc和適宜的Ms。
  引入Ti作為下底層,通過(guò)一系列實(shí)驗(yàn)優(yōu)化出制備Ti引導(dǎo)Co-Pt垂直記錄薄膜的基板溫度(300℃)和Ti層厚度(30 nm)。通過(guò)改變Pt含量得到具有不同晶格常數(shù)的Co-Pt薄膜,比較它們與Ti下底層之間的錯(cuò)配關(guān)系探討了

7、下底層對(duì)磁性層垂直性能影響的根本原因。當(dāng)Pt含量為26 at.%時(shí)Co-Pt形成{00.2}<10.0>強(qiáng)織構(gòu)。Ti在濺射過(guò)程中容易造成晶粒的粗化,通過(guò)在Ti中摻雜SiO2,研究了SiO2含量對(duì)晶粒尺寸的影響。結(jié)果表明隨著SiO2含量的增加,Ti膜的晶粒減小,Co-Pt晶粒隨之相應(yīng)減小并且Co-Pt薄膜獲得良好的垂直磁性能。
  利用Ru作下底層,首先在Ru之前沉積薄薄的一層金屬Ta,實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)低氣壓(0.6Pa)、高功率(90 W

8、)濺射幾個(gè)納米厚的Ta層有利于Ru層取向的控制,從而更好地引導(dǎo)Co-Pt層垂直取向。制備了不同Ru層厚度的Ta(3 nm,90 W,0.6 Pa)/Ru/Co-23at.%Pt(30 nm)薄膜,實(shí)驗(yàn)研究了Ru層厚度對(duì)Co-Pt層取向及磁性能的影響。不同Ru層厚度的薄膜水平和垂直方向的磁滯回線呈現(xiàn)出很大的差異,當(dāng)Ru層厚度為40 nm時(shí)易磁化軸垂直于薄膜表面,該方向矩形比接近于1并且獲得較大的Hc(~4000 Oe)。隨著Ru層厚度的增

9、加,薄膜Hc逐漸增大。
  實(shí)驗(yàn)研究了磁性層濺射氣壓對(duì)Ta(3nm)/Ru(40 nm)/Co-26at.%Pt(15 nm)薄膜取向及磁性能的影響,結(jié)果發(fā)現(xiàn)1.6 Pa和2.5 Pa沉積薄膜有利于其獲得較好的垂直取向和磁性能。通過(guò)對(duì)垂直磁記錄薄膜形核場(chǎng)建立模型,研究了Co-26at.%Pt層厚度對(duì)形核場(chǎng)位置、大小及易磁化方向磁滯回線在Hc處斜率的影響。隨著薄膜厚度的增加形核場(chǎng)逐漸由負(fù)值過(guò)渡到正值,斜率則隨厚度的增加而減小,該計(jì)算

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