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文檔簡介
1、自旋電子學(xué)器件具有速度快、體積小、能耗低等優(yōu)點(diǎn)。高自旋注入效率是實(shí)現(xiàn)高性能自旋電子學(xué)器件的關(guān)鍵。半金屬鐵磁體具有100%的自旋極化率,是理想的半導(dǎo)體自旋電子注入源。
借助計算機(jī)模擬來設(shè)計新材料和改進(jìn)材料的性能,是目前凝聚態(tài)物理和材料物理領(lǐng)域的重要研究方向之一。本文主要利用基于密度泛函理論的第一性原理方法,對四元Heusler合金CoFeCrZ(Z=Al,Si,Ga,Ge)和CoMnCrSi的電子結(jié)構(gòu)、磁性和表面性質(zhì)進(jìn)行了計算研
2、究。
對于四元的Heusler合金CoFeCrZ,當(dāng)采用廣義梯度近似時, CoFeCrGa和CoFeCrGe是近半金屬,而CoFeCrAl和CoFeCrSi是極好的半金屬, CoFeCrAl和CoFeCrSi的半金屬帶隙分別為0.16和0.28 eV。CoFeCrAl和CoFeCrSi表現(xiàn)出對晶格壓縮的穩(wěn)定性,即當(dāng)CoFeCrAl和CoFeCrSi分別晶格壓縮7%和4%時仍保持半金屬性。當(dāng)考慮庫侖相互作用時, CoFeCrAl
3、和CoFeCrGa失去了半金屬性,而CoFeCrSi和CoFeCrGe仍保持半金屬性。另外,當(dāng)考慮和不考慮反位缺陷時,CoFeCrSi的(001)表面都失去了半金屬性。
對于CoMnCrSi,計算結(jié)果表明,其類(Ⅰ)結(jié)構(gòu)是很好的半金屬且半金屬帶隙為0.31 eV,而類(Ⅱ)結(jié)構(gòu)則為近半金屬。當(dāng)類(Ⅰ)結(jié)構(gòu)的晶格常數(shù)在5.50到5.80之間變化時,類(Ⅱ)結(jié)構(gòu)的晶格常數(shù)在5.60到5.80之間變化時,半金屬性都得到了保持。此外,
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