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1、隨著IC(Integated Circuit)設(shè)計(jì)的復(fù)雜度和規(guī)模不斷增大,基于IP(IntellecftualProperty)核復(fù)用的SoC(System On Chip)設(shè)計(jì)技術(shù)開始成為主流。而IP核的驗(yàn)證方法也是越來越受到業(yè)界的關(guān)注。選擇一種合適的驗(yàn)證技術(shù)對(duì)于很多芯片設(shè)計(jì)公司而言已經(jīng)成為了首要問題。
圍繞這個(gè)問題,在研究了當(dāng)前主要的驗(yàn)證方法和技術(shù)的基礎(chǔ)上,本文基于在深圳國(guó)微電子有限公司的工作,提出了一種基于隨機(jī)約束激
2、勵(lì)的,以功能覆蓋率和代碼覆蓋率為目的的IP核驗(yàn)證方法。該方法是基于事務(wù)級(jí)的驗(yàn)證,以搭建總線功能模型和功能覆蓋率模型為重點(diǎn),通過完備的激勵(lì)測(cè)試,以達(dá)到驗(yàn)證方案中要求的覆蓋目標(biāo)為標(biāo)準(zhǔn),完成對(duì)IP核的驗(yàn)證。在驗(yàn)證過程中,代碼覆蓋率檢測(cè)激勵(lì)所執(zhí)行測(cè)試代碼的效率;功能覆蓋率用于檢測(cè)激勵(lì)所執(zhí)行代碼功能的效率。通過對(duì)功能覆蓋率和代碼覆蓋率兩者的結(jié)合分析,能夠提高IP核驗(yàn)證的效率和可靠性。
本文對(duì)I2C和DMA的覆蓋率驗(yàn)證都取得了很好的效
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