微控制器MC68HC908RF2中嵌入式Flash的老化試驗的失效分析及良品率提高.pdf

1、在MC68HC908系列的微控制器中，MC68HC908RF2是作為消費類專用集成芯片銷售。其在交給客戶使用之前，需要將客戶的所使用的程序?qū)懭氲紽lash存儲器中。不難看出客戶對產(chǎn)品的使用著重于對Flash存儲器中程序的讀取，因而其Flash存儲器中數(shù)據(jù)的保持能力也就成為衡量該產(chǎn)品性能的關鍵。作為汽車電子類產(chǎn)品，通常是對微控制器所嵌入的Flash存儲器進行BurnIn試驗以滿足客戶對其功能的要求；同時將客戶程序一并寫入Flash存儲器中

2、。在隨后的測試中對Flash中兩字節(jié)的標志位進行驗證，從而篩選出符合要求的優(yōu)良產(chǎn)品來。 該文著眼于MC68HC908RF2在遙控車鎖上的應用，該芯片的BurnIn試驗包含1小時的整體擦除和512次擦寫循環(huán)，以及1小時的工廠編程。但是現(xiàn)在MC68HC908在最終測試的各個溫度環(huán)節(jié)中其良品率均出現(xiàn)異常，而且高溫問題最為突出。這樣不但降低了產(chǎn)品的可靠性，還大幅增加了生產(chǎn)成本。因而解決BurnIn試驗中的問題就顯得尤為重要。 該

3、課題是在摩托羅拉公司BAT3廠完成。公司內(nèi)有很多具有豐富知識的產(chǎn)品工程師和實際生產(chǎn)試驗的設備維護工程師，并有課題組正在進行此方面的研究工作；此外還有失效分析實驗室提供專項技術支持。老化試驗采用KES公司生產(chǎn)的BurnIn爐，產(chǎn)品測試使用Teradyne公司生產(chǎn)的J750測試系統(tǒng)和UTS測試機以及失效分析實驗室里的各種試驗儀器等。 通過對數(shù)據(jù)進行收集并加以分析可知，主要存在三方面的問題： 1.BurnIn板上出現(xiàn)近半數(shù)失效