專用動態(tài)測試系統(tǒng)控制軟核的設(shè)計.pdf

1、隨著集成電路的高速發(fā)展，IP軟核由于其復用性的特點為系統(tǒng)設(shè)計提供了一種高效、低成本的設(shè)計流程，在各個領(lǐng)域得到了廣泛的應用。然而面向動態(tài)測試系統(tǒng)的控制軟核非常稀少，針對這一現(xiàn)象提出了面向動態(tài)測試系統(tǒng)的常用控制軟核的設(shè)計。
　　文章先對動態(tài)測試系統(tǒng)的特點和測試過程進行分析，畫出了典型測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖，根據(jù)系統(tǒng)的框圖劃分出測試系統(tǒng)常用的功能模塊，即AD控制、觸發(fā)和負延時控制、存儲控制、通信控制等模塊。針對以上功能在ISE環(huán)境下設(shè)計典型

2、測試系統(tǒng)中所常用的AD控制軟核、觸發(fā)比較與負延時控制軟核、SDRAM存儲控制軟核、USB通信控制軟核、串口通信控制軟核，并對其進行了功能仿真，驗證其準確性。各個軟核具有靈活的可編程設(shè)置能力，能夠根據(jù)不同的測試要求來改變其相應的參數(shù)，對其進行簡單的修改、連接即可快速的完成系統(tǒng)的設(shè)計，具有較好的移植性和通用性。
　　設(shè)計了相應的軟核模塊后，以一個具有無線功能的沖擊波測試系統(tǒng)為例，說明了設(shè)計的軟核在測試系統(tǒng)中的應用。在搭建好硬件平臺后，