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1、鈣鈦礦型氧化物薄膜鈷酸鍶鑭(La1.xSrxCoO3,LSCO)、銅酸釓(Gd2CuO4)作為鐵電薄膜鈦酸鍶鋇(BST)電容器與傳感器等的過渡層已成為研究熱點(diǎn),廣泛應(yīng)用于微電子和光電子領(lǐng)域。本文采用溶膠-凝膠法制備LSCO、Gd2CuO4薄膜,研究了溶膠的工藝配比、原料組成(La/Sr摩爾比)、熱處理工藝等因素對(duì)過渡層薄膜性能的影響,并以LSCO、Gd2CuO4薄膜作為BST薄膜的過渡層,研究LSCO、Gd2CuO4薄膜對(duì)BST薄膜結(jié)構(gòu)
2、及介電性能的影響。
采用溶膠-凝膠法制備了La1-xSrxCoO3前驅(qū)體溶液,研究了Sr含量對(duì)LSCO薄膜性能的影響規(guī)律。隨著Sr含量的增大,LSCO的電阻率呈現(xiàn)先減小后增大的趨勢(shì),當(dāng)Sr摻量在0.5時(shí)LSCO的電阻率達(dá)到最小為2.5×10-2Ω·cm;進(jìn)一步研究了溶膠配比對(duì)La0.5Sr0.5CoO3薄膜電阻率的影響,當(dāng)H2O的用量為6mL,乙醇與乙酸體積比為4:1,乙酰丙酮用量為2mL時(shí),La0.5Sr0.5CoO3薄
3、膜電阻率最小為2.16×10-2Ω·cm;采用正交試驗(yàn)研究熱處理工藝對(duì)La0.5Sr0.5CoO3薄膜電阻率的影響規(guī)律,當(dāng)預(yù)處理溫度為300℃,退火溫度為750℃,時(shí)間為600s時(shí)得到的La0.5Sr0.5CoO3薄膜電阻率較小,為3.29×10-2Ω·cm;研究退火溫度對(duì)La0.5Sr0.5CoO3薄膜電阻率的影響規(guī)律,得出最佳退火溫度為750℃,此時(shí)得到的La0.5Sr0.5CoO3薄膜電阻率為2.3×10-2Ω·cm。采用XRD、
4、SEM等手段進(jìn)行測(cè)試,結(jié)果顯示La0.5Sr0.5CoO3薄膜結(jié)晶良好,具有明顯的鈣鈦礦結(jié)構(gòu),晶粒大小均勻,無裂紋空洞等。
采用溶膠-凝膠法制備了Gd2CuO4薄膜,研究了熱處理工藝對(duì)Gd2CuO4薄膜電阻率的影響規(guī)律,當(dāng)預(yù)處理溫度為350℃,退火溫度為750℃,處理時(shí)間為300s時(shí)Gd2CuO4薄膜電阻率值為3.1097Ω·cm;研究退火溫度對(duì)Gd2CuO4薄膜電阻率的影響規(guī)律,得出最佳退火溫度為750℃,此時(shí)得到的Gd
5、2CuO4薄膜電阻率最小值為0.2990Ω·cm;沉積在Pt上的Gd2CuO4薄膜經(jīng)750℃退火處理,在頻率為1kHz時(shí)有最大介電常數(shù)14633,此時(shí)介質(zhì)損耗為4.26。Gd2CuO4薄膜結(jié)晶良好,具有鈣鈦礦結(jié)構(gòu),薄膜表面致密,晶粒大小均勻,但略有裂紋等。
研究了Sr摻加量對(duì)Gd2CuO4薄膜介電性能的影響規(guī)律。隨Sr2+摻入量的增加,薄膜的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗先增大后減??;摻入量為0.2時(shí),薄膜的介電常數(shù)在頻率為1kHz時(shí)
6、值為211.94。其介質(zhì)損耗與未摻加的Gd2CuO4薄膜相比有所下降。即摻入0.2的Sr2+,不僅提高了Gd2CuO4薄膜的介電常數(shù),還降低了介質(zhì)損耗。
研究了La摻加量對(duì)Gd2CuO4薄膜介電性能的影響規(guī)律。摻入La3+后薄膜的介電常數(shù)減小,且隨著La3+摻入量增加,對(duì)薄膜介電常數(shù)的影響程度越來越小,當(dāng)La3+摻量為0.4時(shí),對(duì)薄膜的介電常數(shù)影響最小,當(dāng)頻率為1kHz時(shí),介電常數(shù)為140.83。隨著摻加量的增加,介質(zhì)損耗
7、先降低后升高,摻量為0.4時(shí)值最大,但與未摻加的Gd2CuO4薄膜相比,介質(zhì)損耗有所下降。即摻入La3+后Gd2CuO4薄膜的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗都有所下降。
沉積在Pt電極上的Ba1-xSrxTiO3薄膜,在x=0.5時(shí),Ba0.5Sr0.5TiO3具有最大的介電常數(shù),最低的介質(zhì)損耗。BST為鈣鈦礦結(jié)構(gòu),結(jié)晶良好,無空洞裂紋等缺陷。以La0.5Sr0.5CoO3薄膜為過渡層,分別在La0.5Sr0.5CoO3/SiO2/S
8、i、La0.5Sr0.5CoO3/Pt/SiO2/Si、Pt/La0.5Sr0.5CoO3/SiO2/Si襯底上沉積了Ba0.5Sr0.5TiO3薄膜,結(jié)果表明以LSCO/SiO2/Si為襯底、退火溫度為750℃、測(cè)試頻率為1kHz時(shí)BST薄膜具有較大的介電常數(shù)及較小的介質(zhì)損耗,其值分別為92.13和0.66。以Gd2CuO4薄膜為過渡層,分別在Gd2CuO4/SiO2/Si、Gd2CuO4/Pt/SiO2/Si、Pt/Gd2CuO4/
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