聚合物膜制品缺陷在線測(cè)量.pdf

1、潔凈度是衡量聚合物膜制品質(zhì)量的重要指標(biāo)之一，如何提高聚合物膜制品的潔凈度，是眾多聚合物薄膜生產(chǎn)企業(yè)所面臨的重要問題。為了解決這一難題，本文針對(duì)聚合物膜制品缺陷在線測(cè)量系統(tǒng)及其相關(guān)技術(shù)進(jìn)行了研究，采用實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù)與數(shù)字圖像處理技術(shù)，完成了對(duì)現(xiàn)有缺陷測(cè)量系統(tǒng)的數(shù)字化改造與性能擴(kuò)展。 聚合物膜制品缺陷在線測(cè)量系統(tǒng)是在散射光的照射下，通過線陣CCD控制電路獲得聚合物薄膜缺陷信號(hào)，使用 PCI 數(shù)據(jù)采集卡對(duì)一維缺陷信號(hào)進(jìn)行采集、傳輸，借助

2、于計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析處理，從而精準(zhǔn)地檢測(cè)出缺陷信息，并能夠?qū)崟r(shí)顯示缺陷的幾何形狀。 本文通過對(duì)數(shù)據(jù)采集相關(guān)硬件的工作原理以及Windows系統(tǒng)運(yùn)行機(jī)制的學(xué)習(xí)，給出了利用DriverStudio編寫PCI數(shù)據(jù)采集卡驅(qū)動(dòng)程序的方法，提高了數(shù)據(jù)采集、傳輸、存儲(chǔ)的實(shí)時(shí)性與可靠性。并在深入分析缺陷信號(hào)數(shù)據(jù)特征的基礎(chǔ)上，提出了聚合物膜制品缺陷檢測(cè)算法：首先對(duì)線陣CCD輸出信號(hào)進(jìn)行預(yù)處理，用雙閾值算法對(duì)缺陷區(qū)域進(jìn)行粗定位，然后利用曲線擬合梯度法實(shí)