基于模塊化的保偏近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡近場(chǎng)探測(cè)及刻寫(xiě).pdf_第1頁(yè)
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1、美國(guó)、日本、德國(guó)等發(fā)達(dá)國(guó)家對(duì)納米探測(cè)、納米光刻技術(shù)十分重視,紛紛投入了大量的人力物力進(jìn)行研究開(kāi)發(fā),已經(jīng)取得了比較好的研究成果。而我們國(guó)家的近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡的研制還處于起步階段,目前儀器主要依賴(lài)進(jìn)口,我們?cè)赥opometrix的產(chǎn)品的基礎(chǔ)上,研制出了自己特色的“模塊化的保偏近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡”,我們制成的橫置的實(shí)驗(yàn)平臺(tái),它的光學(xué)部分采用水平放置的光學(xué)系統(tǒng),避免使用折射、反射元件避免光偏振態(tài)變化,同時(shí)采用短光纖探針避免由光纖傳輸引起的偏振

2、態(tài)變化。這種保偏型的SNOM可廣泛應(yīng)用于各向異性樣品的表征、局域光學(xué)偏振態(tài)探測(cè)和偏振光刻寫(xiě)等研究領(lǐng)域。 本文結(jié)合國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目——“偶氮聚合物光致異構(gòu)轉(zhuǎn)化的近場(chǎng)觀(guān)測(cè)和定量分析(No.60377004)”的主要研究?jī)?nèi)容,實(shí)現(xiàn)了光纖探針的小批量生產(chǎn),完成了現(xiàn)有的近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡的改造,研制出了模塊化的保偏近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡,并使之適應(yīng)定量測(cè)量局域的光學(xué)各向異性,文章中給出了定量測(cè)量局域光學(xué)各向異性理論分析計(jì)算以及實(shí)驗(yàn)方法;為

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