基于電噪聲的光電耦合器加嚴(yán)篩選技術(shù)及應(yīng)用.pdf

1、光電耦合器以其體積小、壽命長、無機械觸點、抗干擾性強等優(yōu)點被廣泛應(yīng)用于軍事和航天領(lǐng)域，其噪聲與器件的內(nèi)部缺陷密切相關(guān)，已經(jīng)成為影響器件可靠性，甚至器件功能的一個主要因素。光電耦合器的低頻噪聲通常表現(xiàn)為1/f噪聲和g-r噪聲的疊加，隨著偏置條件的變化，可在很大的頻率范圍內(nèi)觀測到g-r噪聲。在時域內(nèi)，g-r噪聲表現(xiàn)為大幅度的“臺階”波形，嚴(yán)重影響器件的工作特性。更重要的是g-r噪聲的出現(xiàn)反映了器件內(nèi)部的潛在缺陷，通常認(rèn)為重金屬雜質(zhì)和位錯等在

2、半導(dǎo)體器件禁帶中引入的深能級是g-r噪聲的主要來源。對光電耦合器噪聲的研究有助于檢測該類器件各種缺陷的特性，尤其是潛在缺陷對器件性能的影響。因而測量低頻噪聲(1/f噪聲和g-r噪聲)已經(jīng)成為表征光電耦合器內(nèi)部缺陷及其可靠性的一種重要手段。 本文在詳細(xì)分析光電耦合器低頻噪聲的基礎(chǔ)上，研究了噪聲用于光電耦合器可靠性篩選的方法。爆裂噪聲可以嚴(yán)重地影響光耦器件的可靠性，爆裂噪聲可以作為光電耦合器件噪聲篩選的物理判據(jù)。通過對光耦器件噪聲高