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文檔簡介
1、AgCdO材料由于其優(yōu)良的抗電弧侵蝕性能,被稱為“萬能觸頭材料”。但是由于Cd有毒,所以開發(fā)環(huán)保型電性能優(yōu)良的觸頭材料具有重要的應(yīng)用前景。AgSnO<,2>與AgNi是兩類目前研究較多的觸頭材料。由于兩者在電性能以及力學(xué)性能上有較強(qiáng)的互補(bǔ)性,所以本文將兩者進(jìn)行復(fù)合,研究一種新型的觸頭材料AgNiSnO<,2>。 本文首先基于電觸頭研究中大多從電氣性能出發(fā),缺乏材料角度理論指導(dǎo)的現(xiàn)狀,綜述了基體材料、第二相、添加劑、材料缺陷等各種
2、因素對觸頭材料電性能的影響,同時(shí)結(jié)合本文課題,綜述了AgSnO<,2>以及AgNi兩種具體材料的性能特點(diǎn)。其次,由于AgNiSnO<,2>這種材料尚沒有相關(guān)科研人員研究,所以詳細(xì)探討了其用粉末冶金法制備的燒結(jié)工藝,確定了本實(shí)驗(yàn)中成型壓力、燒結(jié)溫度、燒結(jié)氣氛等參數(shù)以及是否采用分段燒結(jié)以及化學(xué)鍍工藝。第三,作者注意到Ni粉的規(guī)格,例如粒度、形貌、含量會對復(fù)合材料的燒結(jié)、燒熔組織與性能產(chǎn)生影響,所以探討了三種不同規(guī)格的Ni粉的影響。最后,基于
3、觸頭燒結(jié)體后續(xù)的加工過程復(fù)雜的現(xiàn)狀,進(jìn)行了一系列的理論分析,使用實(shí)驗(yàn)室得到的觸頭燒結(jié)體電阻率以及燒熔組織形貌能夠用來預(yù)測接近理論密度線材的電阻率以及電弧侵蝕后的形貌。 對AgNiSnO<,2>的燒結(jié)工藝進(jìn)行了詳細(xì)地探討,研究表明:Ni粉的還原溫度選擇在350℃,在此溫度下,NiO完全被還原且樣品“結(jié)塊”效應(yīng)較弱。成型初壓壓力250MPa,成型復(fù)壓壓力500MPa,初燒溫度880℃,復(fù)燒溫度860℃下樣品的燒結(jié)組織與性能優(yōu)良。選用
4、含有H<,2>的燒結(jié)氣氛會將材料中SnO<,2>組分還原,所以實(shí)驗(yàn)中選用純N<,2>作為燒結(jié)氣氛。分段燒結(jié)的工藝可以提高樣品的致密度,AgNiSnO<,2>采用分段燒結(jié)工藝的樣品復(fù)燒后致密度比不采用此工藝的樣品高1%,不過此工藝對其燒結(jié)組織影響不大。采用包覆粉作為原料可以消除組織疏松現(xiàn)象,不過其對樣品復(fù)燒后的致密度影響不大。 Ni粉的形貌、粒度對材料燒結(jié)、燒熔組織與性能影響的實(shí)驗(yàn)表明:不規(guī)則形貌的Ni粉對樣品的初壓過程會產(chǎn)生一定
5、的阻礙作用,含樹枝狀Ni粉的樣品致密度比平滑Ni粉低3.5%;含粒度小Ni粉的樣品初燒致密化效果明顯,但是會降低復(fù)壓效果。不規(guī)則形貌的Ni粉極易發(fā)生顆粒之間的團(tuán)聚現(xiàn)象,團(tuán)聚體內(nèi)部以及四周會產(chǎn)生數(shù)量較多的孔隙,SnO<,2>除了分布在基體外,還分布于孔隙的周圍。在對樣品燒熔后發(fā)現(xiàn),表面發(fā)生“鼓出”現(xiàn)象,平滑粉“鼓出”現(xiàn)象最為明顯。同時(shí)三種含Ni樣品燒熔后底部均沒有大塊“富Ag區(qū)”的出現(xiàn),其中含針狀Ni粉的樣品底部形貌最好,分析為Ni針狀的
6、形貌會對液Ag的向下流動(dòng)產(chǎn)生阻礙,同時(shí)其粒度較小,增加了熔池粘度。此外還探討了Ni含量的影響,認(rèn)為Ni與SnO<,2>各為6%時(shí),復(fù)合材料的燒結(jié)、燒熔組織與性能最好。電阻率是觸頭材料電學(xué)性能的一個(gè)重要指標(biāo),而抗電弧侵蝕能力決定了觸頭材料的電壽命,所以兩者的研究極其重要。由于觸頭材料燒結(jié)體后續(xù)的壓力加工過程較復(fù)雜,生產(chǎn)周期長,因此用實(shí)驗(yàn)室得到的較低致密度下燒結(jié)體的電阻率以及燒熔組織形貌來預(yù)測經(jīng)過壓力加工后的接近理論密度線材的電阻率以及電弧
7、侵蝕后的形貌,具有較大的意義。在預(yù)測線材電阻率時(shí),運(yùn)用了文獻(xiàn)中的公式,進(jìn)行了一系列的理論分析。在對理論密度的AgSnO<,2>電阻率計(jì)算時(shí)發(fā)現(xiàn),公式計(jì)算值比文獻(xiàn)實(shí)測值小4.5%-9.1%。用公式對AgSnO<,2>(6)不同致密度下的電阻率數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合得到其電阻率為2.01μΩ·cm,在用公式計(jì)算得到的數(shù)值為1.83μΩ·cm,兩者差9.0%,在4.5%-9.1%內(nèi),認(rèn)為2.01μΩ·cm這個(gè)數(shù)據(jù)可以作為本實(shí)驗(yàn)中AgSnO<,2>(6)
8、致密度為99%的線材的電阻率。在詳細(xì)分析了燒熔與電弧侵蝕工作環(huán)境的不同以及兩者實(shí)驗(yàn)前不同致密度下材料組織的不同后認(rèn)為,電弧侵蝕后“富Ag區(qū)”的尺寸比燒熔后“富Ag區(qū)”的尺寸小,分析為電弧侵蝕前材料第二相(第三相)在基體中分布較復(fù)燒后均勻、致密,其阻礙液Ag流動(dòng)的能力更強(qiáng)。同時(shí),對于Ag-SnO<,2>的“分層”現(xiàn)象,在電弧侵蝕后組織與燒熔后組織體現(xiàn)的效果是相同的。這是因?yàn)椤胺謱印爆F(xiàn)象與Ag與SnO<,2>的密度差異以及兩者的潤濕性有關(guān),
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