玉米果穗上部葉片卷曲以及其它株型與穗部性狀的基因定位.pdf

1、西南大學(xué)碩士學(xué)位論文玉米果穗上部葉片卷曲以及其它株型與穗部性狀的基因定位姓名：徐德林申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：碩士專業(yè)：作物遺傳育種指導(dǎo)教師：蔡一林20080601西南大學(xué)碩士學(xué)位論文⑤同時(shí)運(yùn)用區(qū)間作圖法，對(duì)上述17個(gè)數(shù)量性狀進(jìn)行了QTL檢測(cè)，其中莖粗檢測(cè)到2個(gè)位點(diǎn)，共解釋表型變異的253％：穗位高檢測(cè)到3個(gè)位點(diǎn)，共解釋表型變異的233％；株高檢測(cè)到個(gè)4個(gè)位點(diǎn)，共解釋表型變異的295％；雄穗分枝數(shù)檢測(cè)到個(gè)8個(gè)位點(diǎn)，共解釋表型變異的823％；葉片數(shù)檢

2、測(cè)到個(gè)8個(gè)位點(diǎn)，累計(jì)解釋表型變異的954％；禿尖長(zhǎng)檢測(cè)到2個(gè)QTL位點(diǎn)，累計(jì)解釋表型變異139％；穗長(zhǎng)檢測(cè)到6個(gè)位點(diǎn)，可解釋表型變異的536％；穗粗檢測(cè)到4個(gè)QTL，可解釋表型變異的597％：穗行數(shù)檢測(cè)到5個(gè)QTL，可解釋表型變異的51％；行粒數(shù)檢測(cè)到4個(gè)Q，幾，可解釋表型變異的438％；軸粗僅檢測(cè)到一個(gè)，可解釋表型變異的5％；二百粒重檢測(cè)到3個(gè)QTL位點(diǎn)，可解釋表型變異的295％；穗粒重檢測(cè)到6個(gè)QTL，可鰓釋表型變異的413％。葉面

3、積檢測(cè)到5個(gè)QTL位點(diǎn)，累計(jì)鰓釋表型變異49％；葉向值檢測(cè)到兩個(gè)QTL，可解釋表型變異的147％；葉型系數(shù)檢測(cè)到4個(gè)QTL，qLsCl刮LsC4，分布于Chl、Ch7和Ch8，分別可解釋表型變異的52％、827％、827％和828％，qLSC2刮LsC4表現(xiàn)出明顯的主效QTL特征；出籽率檢測(cè)到6個(gè)Q11L位點(diǎn)，ch4、Ch7、Ch8和ChlO，qKR刪，分別可解釋表型變異的82％、699％、70％、699％、716％和72％，qⅪ毪一q