紅外熱波無損檢測系統(tǒng)中閃光燈陣列脈沖熱激勵裝置的研制和應(yīng)用.pdf

1、紅外熱波無損檢測技術(shù)是二十世紀(jì)九十年代在美國發(fā)明并不斷完善的一種新型實用技術(shù)。在紅外熱波檢測中，試件表面被脈沖閃光燈激勵，同時使用紅外熱像儀實時監(jiān)測試件表面的溫差，結(jié)合紅外熱像儀和計算機專用軟件進行數(shù)據(jù)采集，分析所得熱圖序列來推斷材料內(nèi)部缺陷的形狀、類型、性質(zhì)以及定量測量深度等相關(guān)信息，從而實現(xiàn)對材料檢測的目的。 熱激勵技術(shù)是檢測的關(guān)鍵之一。有效和巧妙地改進熱激勵方法成為解決問題的前提。為了達到有效的檢測目的，實驗室自主研發(fā)出以

2、氖燈為光源，陣列式分布的閃光燈同步熱激勵源為核心的熱激勵裝置。 關(guān)鍵技術(shù)的新穎之處在于它具有質(zhì)量輕、成本低、結(jié)構(gòu)簡單、功耗低、便攜式、針對性強等特點，尤其是大大減小脈沖寬度，并可以把在熱加載飽和中被湮沒的信號分離出來。無損檢測過程中，針對在毫米數(shù)量級下大面積的涂層，漆層，薄膜等材料，根據(jù)自主研發(fā)的熱激勵裝置具有的陣列式設(shè)計的特點，精心設(shè)計以鋁板為基底，以兩種典型表面覆蓋不同厚度漆層試件為研究對象，根據(jù)熱波理論，達到檢測均勻性和單