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1、本文詳細(xì)描述了金屬硅化物掩蔽層在半導(dǎo)體工藝中的作用,以及O.18微米節(jié)點(diǎn)以下的工藝流程中,由于機(jī)臺(tái)生產(chǎn)能力的局限所造成硅化物掩蔽層的工藝流程的工藝允許條件縮小的問題。在文中詳細(xì)闡述了如何利用現(xiàn)有的工藝條件、以及改變工藝流程的方式,把這段金屬硅化物掩蔽層工藝流程的工藝允許條件做大。 第一章主要介紹了金屬硅化物掩蔽層的工藝流程背景;第二章、第三章是提出了當(dāng)前金屬硅化物掩蔽層的工藝流程的局限性和解決方案;第四章則重點(diǎn)討論和分析了在第三
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