場(chǎng)發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、場(chǎng)發(fā)射平板顯示作為傳統(tǒng)彩電(顯像管)的平板化技術(shù)，在國(guó)內(nèi)外受到廣泛重視，并取得了顯著的進(jìn)展。場(chǎng)致電子發(fā)射簡(jiǎn)稱為場(chǎng)發(fā)射現(xiàn)象，是場(chǎng)發(fā)射顯示器件的物理基礎(chǔ)，場(chǎng)發(fā)射測(cè)量技術(shù)是研究場(chǎng)發(fā)射陰極材料、場(chǎng)發(fā)射器件的技術(shù)基礎(chǔ)。 場(chǎng)發(fā)射電流與場(chǎng)強(qiáng)關(guān)系的測(cè)量是場(chǎng)發(fā)射測(cè)量的主要內(nèi)容，一般是需要在數(shù)千伏的高壓條件下測(cè)量納安量級(jí)的弱電流，信號(hào)的測(cè)量和采集極易受外界干擾，目前國(guó)內(nèi)外尚沒(méi)有合適的測(cè)量電源。 本文利用現(xiàn)有的直流高壓電源，設(shè)計(jì)完成了在高壓輸

2、出端測(cè)量范圍為10nA～1mA，即5個(gè)數(shù)量級(jí)的場(chǎng)發(fā)射電流的場(chǎng)發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)，基本滿足了場(chǎng)發(fā)射測(cè)量要求。 本文具體完成了如下幾個(gè)方面工作： 1、針對(duì)場(chǎng)發(fā)射電流變化范圍寬的特點(diǎn)，采用了對(duì)數(shù)放大測(cè)量方法，并進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)測(cè)量驗(yàn)證； 2、采用ARM微控制器LPC2148，對(duì)模數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)采集進(jìn)行了硬件電路和軟件設(shè)計(jì)； 3、采用紅外技術(shù)實(shí)現(xiàn)高壓下的弱信號(hào)測(cè)量； 4、利用LPC2148片內(nèi)Flash設(shè)計(jì)了存儲(chǔ)U盤，