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1、為了滿足用戶的高端應(yīng)用需求，高性能FPGA必須能夠支持配置數(shù)據(jù)校驗和單事件翻轉(zhuǎn)SEU（Single Event Upset）效應(yīng)偵測的功能。針對該需求，本文對FPGA配置數(shù)據(jù)校驗和SEU效應(yīng)偵測進行了研究。并根據(jù)FPGA配置數(shù)據(jù)和回讀數(shù)據(jù)的格式，設(shè)計了配置數(shù)據(jù)校驗電路和SEU效應(yīng)偵測電路。其中數(shù)據(jù)的校驗，采用的是循環(huán)冗余校驗CRC（Cyclic Redundancy Check）算法。 電路首先用ModelSim SE6．0進行
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