磁控濺射法制備p型透明導電二氧化錫薄膜.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文綜合介紹了各種制備SnO2薄膜的工藝方法、SnO2薄膜的特性及其應用,SnO2薄膜的p型摻雜機理,并分析了在相對低的溫度下獲得性能良好的p型TCO薄膜的途徑。本文實驗中采用不同的元素對SnO2進行p型摻雜,并通過不同的工藝參數(shù)來制備p型的SnO2薄膜的性能。通過直流磁控濺射合金靶沉積合金膜(摻雜金屬與Sn原子比均為0.2),然后在空氣中熱氧化得到p型的SnO2薄膜的方法,分別對SnO2薄膜進行了摻In、摻Ga試驗,成功地獲得了p型的

2、SnO2:In和SnO2:Ga透明導電薄膜。實驗發(fā)現(xiàn),600℃~700℃溫度范圍內(nèi)熱氧化得到的SnO2:In薄膜,在可見光范圍的平均透過率可以達到80%以上,空穴濃度最高可以達到9.61×1018cm-3。但用同樣方法制備的p型的SnO2:Ga薄膜的電學性能比SnO2:In薄膜的差。表明對磁控濺射法制備p型SnO2薄膜時,摻In比摻Ga更有效。實驗還通過反應濺射法沉積了SnO2:In薄膜,發(fā)現(xiàn)其電學性能遠不及先沉積合金膜,然后熱氧化法制

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