剪切蠕變下錫銀焊點(diǎn)的電阻應(yīng)變特性研究.pdf

1、無(wú)鉛焊點(diǎn)的蠕變特性是焊點(diǎn)可靠性問(wèn)題中的研究熱點(diǎn)，本文采用在線微電阻測(cè)量的方法，對(duì)Sn-3.5Ag焊點(diǎn)的剪切蠕變電阻應(yīng)變進(jìn)行了系統(tǒng)的研究。分別在建立等效裂紋生長(zhǎng)與電阻應(yīng)變關(guān)系模型、剪切蠕變測(cè)試系統(tǒng)軟硬件實(shí)現(xiàn)、蠕變?cè)囼?yàn)及電阻應(yīng)變機(jī)理探討等4個(gè)方面取得了較有成效的進(jìn)展?；诮饘賹?dǎo)電經(jīng)典理論和Griffith斷裂理論，建立起焊點(diǎn)等效裂紋與電阻應(yīng)變之間的基本關(guān)系模型，為本文研究奠定了理論基礎(chǔ)。利用四探針?lè)ㄔ诰€測(cè)量微電阻技術(shù)，分別以Delphi和M

2、CS-51系列單片機(jī)為平臺(tái)開(kāi)發(fā)了蠕變測(cè)試系統(tǒng)的軟件和硬件系統(tǒng)。采用Origin對(duì)大量的焊點(diǎn)試樣測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)學(xué)處理，得到的相關(guān)表格和曲線圖表明：1)焊點(diǎn)壽命與最大電阻應(yīng)變之間的關(guān)系比較復(fù)雜，其深層關(guān)系仍須進(jìn)一步研究探討；2)大部分的“電阻應(yīng)變-時(shí)間”曲線反映了焊點(diǎn)的裂紋連續(xù)生長(zhǎng)、蠕變失效過(guò)程，變化趨勢(shì)與經(jīng)典結(jié)果吻合，蠕變的各個(gè)階段比較分明；3)對(duì)于小尺寸的Sn-3.5Ag焊點(diǎn)試樣，相當(dāng)部分的“電阻應(yīng)變-時(shí)間”曲線具有明顯的先下降后上升的