大口徑光學(xué)平面干涉檢測(cè)的子孔徑拼接研究.pdf_第1頁(yè)
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1、子孔徑拼接檢測(cè)技術(shù)是拓展標(biāo)準(zhǔn)干涉儀的橫向和縱向動(dòng)態(tài)范圍，實(shí)現(xiàn)低成本、高分辨率檢測(cè)大口徑光學(xué)元件的有效手段。其關(guān)鍵技術(shù)在于子孔徑劃分、子孔徑波面數(shù)據(jù)的采集和子孔徑擬合拼接的數(shù)據(jù)處理方法。 本文介紹了拼接模式的選取和子孔徑數(shù)目的確定等子孔徑數(shù)據(jù)采集中關(guān)鍵問(wèn)題的解決方法，給出了對(duì)現(xiàn)有檢測(cè)平臺(tái)進(jìn)行改造的技術(shù)要求。對(duì)“兩兩拼接”和“均化誤差”兩種拼接算法進(jìn)行了討論，編寫(xiě)了數(shù)據(jù)拼接的算法程序。對(duì)編寫(xiě)的算法程序進(jìn)行了模擬拼接實(shí)驗(yàn)和實(shí)際拼接實(shí)驗(yàn)

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