高可靠性微處理器驗(yàn)證技術(shù)的研究.pdf

1、驗(yàn)證最終設(shè)計(jì)的正確性，對設(shè)計(jì)復(fù)雜芯片起到了關(guān)鍵性的保證作用。有資料顯示，目前芯片一次投片成功率只有35％左右，造成重復(fù)投片的主要原因就是驗(yàn)證不夠充分。隨著設(shè)計(jì)規(guī)模不斷增大，驗(yàn)證的工作量和復(fù)雜度以更高速度增加。根據(jù)有關(guān)研究數(shù)據(jù)，目前多數(shù)的IC設(shè)計(jì)項(xiàng)目中，驗(yàn)證工作占了整個(gè)設(shè)計(jì)流程約60％-80％左右的時(shí)間。設(shè)計(jì)正確性的驗(yàn)證引起了學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的廣泛關(guān)注，成為了研究熱點(diǎn)。同時(shí)如何快速而有效地實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證平臺完成設(shè)計(jì)驗(yàn)證也成為當(dāng)今IC設(shè)計(jì)驗(yàn)證領(lǐng)域的

2、重要研究方向之一。 論文針對高可靠性微處理器的特點(diǎn)，提出了多級驗(yàn)證體系對高可靠性微處理器進(jìn)行多層次驗(yàn)證；并在測試過程中針對高可靠性要求，提出了進(jìn)行基于故障注入的測試；針對高可靠性微處理器的軟件模擬驗(yàn)證，設(shè)計(jì)了一種新的高可靠性微處理器軟件驗(yàn)證平臺，并具有較高的可重用性；設(shè)計(jì)了FPGA硬件驗(yàn)證平臺，并在FPGA驗(yàn)證平臺上進(jìn)行了硬件仿真驗(yàn)證，最后還對FPGA的劃分問題進(jìn)行了研究，并針對多片F(xiàn)PGA互連問題提出了芯片引腳多功能復(fù)用。