版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、目前,硅材料的高成本使太陽電池的廣泛應(yīng)用受到了極大的限制。大量研究表明,使用純度為4N~6N的太陽級硅制備太陽電池,效率可以達(dá)到單晶電池的80%,但是成本只有其四分之一。因此,研究太陽級硅的制備技術(shù)具有重要意義。
本學(xué)位論文首先介紹了國內(nèi)外太陽級硅制備技術(shù)的新工藝及新方法,并簡要論述了冷等離子體刻蝕純化冶金硅的機理。由于等離子體鞘層內(nèi)才有能量足夠大的粒子,要達(dá)到純化效果,必須使硅粉處于陰極鞘層之內(nèi)。文中對冷等離子體鞘層進(jìn)行
2、了分析和計算,得到了鞘層與電流密度、陰極偏壓、氣壓的關(guān)系式,為增厚鞘層提供了理論指導(dǎo)。建立了硅粉在鞘層的動力學(xué)模型,對硅粉在直立平板反應(yīng)室內(nèi)的受力和運動進(jìn)行了詳細(xì)分析,得到了硅粉在鞘層的沉降時間表達(dá)式??疾炝斯璺哿?、真空泵抽氣速率、反應(yīng)室氣壓等參數(shù)對硅粉沉降過程的影響。分析表明,當(dāng)硅粉在100 m μ左右時有較好的純化效果和較高的回收率。對冷等離子體中硅粉的刻蝕動力學(xué)進(jìn)行了研究?;谝痪S流體模型,對陰極鞘層內(nèi)的重粒子速度分布、粒子通量
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 硅粉的冷等離子體刻蝕提純研究.pdf
- 硅基材料的ECR等離子體刻蝕工藝研究.pdf
- 等離子體刻蝕輪廓的數(shù)值研究.pdf
- SiCOH薄膜的雙頻等離子體刻蝕研究.pdf
- 等離子體刻蝕的物理基礎(chǔ)研究.pdf
- 等離子體刻蝕的多目標(biāo)優(yōu)化設(shè)計研究.pdf
- 基于擴散限制刻蝕模型的等離子體刻蝕模擬研究.pdf
- PLC控制的電感耦合等離子體刻蝕系統(tǒng)及刻蝕研究.pdf
- 感應(yīng)耦合等離子體刻蝕及應(yīng)用研究.pdf
- 高密度等離子體刻蝕輪廓的數(shù)值研究.pdf
- 40nm硅柵等離子體刻蝕工藝開發(fā)優(yōu)化.pdf
- 基于CFD的等離子體刻蝕數(shù)值模擬與參數(shù)優(yōu)化.pdf
- 基于水平集方法的等離子體刻蝕過程數(shù)值模擬.pdf
- 等離子體刻蝕與GaN HEMT關(guān)鍵工藝技術(shù)研究.pdf
- 含氟等離子體刻蝕SiC的分子動力學(xué)模擬.pdf
- 脈沖等離子體刻蝕工藝中極板上離子能量和角度分布的研究.pdf
- 等離子體刻蝕的動力學(xué)模型及三維模擬.pdf
- 微波等離子體刻蝕輔助石墨烯生長化學(xué)氣相沉積系統(tǒng).pdf
- 磁過濾電弧離子鍍制備Y-AI-O薄膜——等離子體刻蝕防護(hù)涂層.pdf
- 常壓射頻冷等離子體在刻蝕工藝中的應(yīng)用研究.pdf
評論
0/150
提交評論